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参数资料
| 型号： | PIC16F1823-E/ML |
| 厂商： | Microchip Technology |
| 文件页数： | 70/109页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | MCU 8BIT 8K FLASH 16QFN |
| 标准包装： | 91 |
| 系列： | PIC® XLP™ 16F |
| 核心处理器： | PIC |
| 芯体尺寸： | 8-位 |
| 速度： | 32MHz |
| 连通性： | I²C，LIN，SPI，UART/USART |
| 外围设备： | 欠压检测/复位，POR，PWM，WDT |
| 输入/输出数： | 12 |
| 程序存储器容量： | 3.5KB（2K x 14） |
| 程序存储器类型： | 闪存 |
| EEPROM 大小： | 256 x 8 |
| RAM 容量： | 128 x 8 |
| 电压 - 电源 (Vcc/Vdd)： | 1.8 V ~ 5.5 V |
| 数据转换器： | A/D 8x10b |
| 振荡器型： | 内部 |
| 工作温度： | -40°C ~ 125°C |
| 封装/外壳： | 16-VQFN 裸露焊盘 |
| 包装： | 管件 |
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254
7674F–AVR–09/09
ATmega164P/324P/644P
21.7.4
ADC Accuracy Definitions
An n-bit single-ended ADC converts a voltage linearly between GND and V
REF in 2
n steps
(LSBs). The lowest code is read as 0, and the highest code is read as 2
n-1.
Several parameters describe the deviation from the ideal behavior:
Offset: The deviation of the first transition (0x000 to 0x001) compared to the ideal transition (at
0.5 LSB). Ideal value: 0 LSB.
Figure 21-10. Offset Error
Gain Error: After adjusting for offset, the Gain Error is found as the deviation of the last
transition (0x3FE to 0x3FF) compared to the ideal transition (at 1.5 LSB below maximum).
Ideal value: 0 LSB
Figure 21-11. Gain Error
Integral Non-linearity (INL): After adjusting for offset and gain error, the INL is the maximum
deviation of an actual transition compared to an ideal transition for any code. Ideal value: 0
LSB.
Output Code
VREF Input Voltage
Ideal ADC
Actual ADC
Offset
Error
Output Code
VREF Input Voltage
Ideal ADC
Actual ADC
Gain
Error
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参数描述 |
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