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参数资料
| 型号： | PIC18F66K22T-I/PT |
| 厂商： | Microchip Technology |
| 文件页数： | 44/61页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC MCU 8BIT 64KB FLASH 64TQFP |
| 标准包装： | 1,200 |
| 系列： | PIC® XLP™ 18F |
| 核心处理器： | PIC |
| 芯体尺寸： | 8-位 |
| 速度： | 64MHz |
| 连通性： | I²C，LIN，SPI，UART/USART |
| 外围设备： | 欠压检测/复位，LVD，POR，PWM，WDT |
| 输入/输出数： | 53 |
| 程序存储器容量： | 64KB（32K x 16） |
| 程序存储器类型： | 闪存 |
| EEPROM 大小： | 1K x 8 |
| RAM 容量： | 4K x 8 |
| 电压 - 电源 (Vcc/Vdd)： | 1.8 V ~ 5.5 V |
| 数据转换器： | A/D 16x12b |
| 振荡器型： | 内部 |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 64-TQFP |
| 包装： | 带卷 (TR) |
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P89V52X2_3
NXP B.V. 2009. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 03 — 4 May 2009
49 of 57
NXP Semiconductors
P89V52X2
80C51 with 256 B RAM, 192 B data EEPROM
Fig 25. Shift register mode timing waveforms
002aaa552
ALE
0
instruction
1
2
3
4
5
6
7
8
01
2
3
4
5
6
7
valid
TXLXL
set TI
set RI
tXHQX
tQVXH
tXHDV
tXHDX
clock
output data
write to SBUF
input data
clear RI
Fig 26. Test load example
All other pins disconnected
Fig 27. IDD test condition, active mode
002aaa555
to DUT
to tester
CL
002aaa556
VDD
P0
EA
RST
XTAL2
(n.c.)
clock
signal
XTAL1
VSS
IDD
VDD
8
DUT
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PDF描述 |
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参数描述 |
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| PIC18F66K80-E/PT | 功能描述:8位微控制器 -MCU 64KB FL 4KBRM 16MIPS 12bit ADC CTMU RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 处理器系列:C8051F39x 数据总线宽度:8 bit 最大时钟频率:50 MHz 程序存储器大小:16 KB 数据 RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:1.8 V to 3.6 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:QFN-20 安装风格:SMD/SMT |
| PIC18F66K80-H/MR | 功能描述:8位微控制器 -MCU CAN 64KB FL 4KBRAM 16MIPS 12b ADC CTMU RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 处理器系列:C8051F39x 数据总线宽度:8 bit 最大时钟频率:50 MHz 程序存储器大小:16 KB 数据 RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:1.8 V to 3.6 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:QFN-20 安装风格:SMD/SMT |
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