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参数资料
| 型号： | PIC32MX575F256L-80I/PT |
| 厂商： | Microchip Technology |
| 文件页数： | 4/64页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC MCU 32BIT 256KB FLASH 100TQFP |
| 特色产品： | 32-Bit PIC? Microcontroller PIC32 32-Bit MCU Families |
| 标准包装： | 119 |
| 系列： | PIC® 32MX |
| 核心处理器： | MIPS32? M4K? |
| 芯体尺寸： | 32-位 |
| 速度： | 80MHz |
| 连通性： | CAN，I²C，SPI，UART/USART，USB OTG |
| 外围设备： | 欠压检测/复位，DMA，POR，PWM，WDT |
| 输入/输出数： | 85 |
| 程序存储器容量： | 256KB（256K x 8） |
| 程序存储器类型： | 闪存 |
| RAM 容量： | 64K x 8 |
| 电压 - 电源 (Vcc/Vdd)： | 2.3 V ~ 3.6 V |
| 数据转换器： | A/D 16x10b |
| 振荡器型： | 内部 |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 100-TQFP |
| 包装： | 托盘 |
| 产品目录页面： | 650 (CN2011-ZH PDF) |
| 配用： | 876-1000-ND - PIC32 BREAKOUT BOARD |
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PIC32MX
DS61145K-page 12
2007-2012 Microchip Technology Inc.
5.2
4-wire JTAG Details
The 4-wire interface uses standard JTAG (IEEE
1149.1-2001) interface signals.
TCK: Test Clock – drives data in/out
TMS: Test Mode Select – selects operational mode
TDI: Test Data In – data into the device
TDO: Test Data Out – data out of the device
Since only one data line is available, the protocol is
necessarily serial (like SPI). The clock input is at the
TCK pin. Configuration is performed by manipulating a
state machine bit by bit through the TMS pin. One bit of
data is transferred in and out per TCK clock pulse at the
TDI and TDO pins, respectively. Different instruction
modes can be loaded to read the chip ID or manipulate
chip functions.
Data presented to TDI must be valid for a chip-specific
setup time before, and hold time, after the rising edge
of TCK. TDO data is valid for a chip-specific time after
the falling edge of TCK (refer to Figure 5-3).
FIGURE 5-3:
4-WIRE JTAG INTERFACE
TMS
TDI
TDO
iMSb
iLSb
‘1’
TCK
oLSb
oMSb
‘1’
‘0’
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PDF描述 |
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参数描述 |
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