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参数资料
| 型号： | PK20N512VMD100 |
| 厂商： | Freescale Semiconductor |
| 文件页数： | 17/75页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC ARM CORTEX MCU 512K 144-MAP |
| 产品培训模块： | Kinetis® Cortex-M4 Microcontroller Family |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | Kinetis |
| 核心处理器： | ARM? Cortex?-M4 |
| 芯体尺寸： | 32-位 |
| 速度： | 100MHz |
| 连通性： | CAN，EBI/EMI，I²C，IrDA，SDHC，SPI，UART/USART，USB，USB OTG |
| 外围设备： | DMA，I²S，LVD，POR，PWM，WDT |
| 输入/输出数： | 100 |
| 程序存储器容量： | 512KB（512K x 8） |
| 程序存储器类型： | 闪存 |
| RAM 容量： | 128K x 8 |
| 电压 - 电源 (Vcc/Vdd)： | 1.71 V ~ 3.6 V |
| 数据转换器： | A/D 33x16b，D/A 2x12b |
| 振荡器型： | 内部 |
| 工作温度： | -40°C ~ 105°C |
| 封装/外壳： | 144-LBGA |
| 包装： | 托盘 |
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2.
Determined according to JEDEC Standard JESD51-8, Integrated Circuit Thermal Test Method Environmental
Conditions—Junction-to-Board.
3.
Determined according to Method 1012.1 of MIL-STD 883, Test Method Standard, Microcircuits, with the cold plate
temperature used for the case temperature. The value includes the thermal resistance of the interface material
between the top of the package and the cold plate.
4.
Determined according to JEDEC Standard JESD51-2, Integrated Circuits Thermal Test Method Environmental
Conditions—Natural Convection (Still Air).
6 Peripheral operating requirements and behaviors
6.1 Core modules
6.1.1 Debug trace timing specifications
Table 12. Debug trace operating behaviors
Symbol
Description
Min.
Max.
Unit
Tcyc
Clock period
Frequency dependent
MHz
Twl
Low pulse width
2
—
ns
Twh
High pulse width
2
—
ns
Tr
Clock and data rise time
—
3
ns
Tf
Clock and data fall time
—
3
ns
Ts
Data setup
3
—
ns
Th
Data hold
2
—
ns
Figure 3. TRACE_CLKOUT specifications
Th
Ts
Th
TRACE_CLKOUT
TRACE_D[3:0]
Figure 4. Trace data specifications
Peripheral operating requirements and behaviors
K20 Sub-Family Data Sheet Data Sheet, Rev. 7, 02/2013.
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Freescale Semiconductor, Inc.
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PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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