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参数资料
| 型号： | PK30N512VMD100 |
| 厂商： | Freescale Semiconductor |
| 文件页数： | 18/74页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC ARM CORTEX MCU 512K 144-MAP |
| 产品培训模块： | Kinetis® Cortex-M4 Microcontroller Family |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | Kinetis |
| 核心处理器： | ARM? Cortex?-M4 |
| 芯体尺寸： | 32-位 |
| 速度： | 100MHz |
| 连通性： | CAN，EBI/EMI，I²C，IrDA，SDHC，SPI，UART/USART |
| 外围设备： | DMA，I²S，LCD，LVD，POR，PWM，WDT |
| 输入/输出数： | 102 |
| 程序存储器容量： | 512KB（512K x 8） |
| 程序存储器类型： | 闪存 |
| RAM 容量： | 128K x 8 |
| 电压 - 电源 (Vcc/Vdd)： | 1.71 V ~ 3.6 V |
| 数据转换器： | A/D 37x16b，D/A 2x12b |
| 振荡器型： | 内部 |
| 工作温度： | -40°C ~ 105°C |
| 封装/外壳： | 144-LBGA |
| 包装： | 托盘 |
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Table 14. JTAG full voltage range electricals (continued)
Symbol
Description
Min.
Max.
Unit
J3
TCLK clock pulse width
Boundary Scan
JTAG and CJTAG
Serial Wire Debug
50
25
12.5
—
ns
J4
TCLK rise and fall times
—
3
ns
J5
Boundary scan input data setup time to TCLK rise
20
—
ns
J6
Boundary scan input data hold time after TCLK rise
0
—
ns
J7
TCLK low to boundary scan output data valid
—
25
ns
J8
TCLK low to boundary scan output high-Z
—
25
ns
J9
TMS, TDI input data setup time to TCLK rise
8
—
ns
J10
TMS, TDI input data hold time after TCLK rise
1.4
—
ns
J11
TCLK low to TDO data valid
—
22.1
ns
J12
TCLK low to TDO high-Z
—
22.1
ns
J13
TRST assert time
100
—
ns
J14
TRST setup time (negation) to TCLK high
8
—
ns
J2
J3
J4
TCLK (input)
Figure 5. Test clock input timing
Peripheral operating requirements and behaviors
K30 Sub-Family Data Sheet Data Sheet, Rev. 7, 02/2013.
Freescale Semiconductor, Inc.
25
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PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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| PK30X256VLQ100 | 功能描述:ARM微控制器 - MCU KINETIS 256KFLEX LCD (pre-qual sample) RoHS:否 制造商:STMicroelectronics 核心:ARM Cortex M4F 处理器系列:STM32F373xx 数据总线宽度:32 bit 最大时钟频率:72 MHz 程序存储器大小:256 KB 数据 RAM 大小:32 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:1.65 V to 3.6 V, 2 V to 3.6 V, 2.2 V to 3.6 V 工作温度范围:- 40 C to + 85 C 封装 / 箱体:LQFP-48 安装风格:SMD/SMT |
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