参数资料
型号: REF192GRUZ
厂商: Analog Devices Inc
文件页数: 16/28页
文件大小: 0K
描述: IC VREF SERIES PREC 2.5V 8-TSSOP
设计资源: Software Configurable 16-Bit Quad-Channel Unipolar/Bipolar Voltage Output Using AD5754 (CN0086)
Software Configurable 14-Bit Quad-Channel Unipolar/Bipolar Voltage Output Using AD5734 (CN0087)
Software Configurable 12-Bit Quad Channel Unipolar/Bipolar Voltage Output Using AD5724 (CN0088)
Software Configurable 16-Bit Dual-Channel Unipolar/Bipolar Voltage Output Using AD5752 (CN0092)
Software Configurable 14-Bit Dual-Channel Unipolar/Bipolar Voltage Output Using AD5732 (CN0093)
Software Configurable 12-Bit Dual-Channel Unipolar/Bipolar Voltage Output Using AD5722 (CN0094)
标准包装: 96
系列: REF19
基准类型: 串联,精度
输出电压: 2.5V
容差: ±10mV
温度系数: 25ppm/°C
输入电压: 2.6 V ~ 15 V
通道数: 1
电流 - 静态: 15µA
电流 - 输出: 30mA
工作温度: -40°C ~ 85°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 8-TSSOP(0.173",4.40mm 宽)
供应商设备封装: 8-TSSOP
包装: 管件
产品目录页面: 797 (CN2011-ZH PDF)

REF19x Series
ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS
Table 23.
THERMAL RESISTANCE
Data Sheet
Parameter
Supply Voltage
Output to GND
Rating
?0.3 V to +18 V
?0.3 V to V S + 0.3 V
θ JA is specified for worst-case conditions; that is, θ JA is specified
for the device in socket for PDIP and is specified for the device
soldered in the circuit board for the SOIC and TSSOP packages.
Output to GND Short-Circuit Duration
Storage Temperature Range
PDIP, SOIC Package
Operating Temperature Range
REF19x
Junction Temperature Range
Indefinite
?65°C to +150°C
?40°C to +125°C
Table 24.
Package Type
8-Lead PDIP (N)
8-Lead SOIC (R)
8-Lead TSSOP (RU)
θ JA
103
158
240
θ JC
43
43
43
Unit
°C/W
°C/W
°C/W
PDIP, SOIC Package
?65°C to +150°C
Lead Temperature (Soldering 60 sec)
300°C
ESD CAUTION
Stresses above those listed under Absolute Maximum Ratings
may cause permanent damage to the device. This is a stress
rating only; functional operation of the device at these or any
other conditions above those indicated in the operational
section of this specification is not implied. Exposure to absolute
maximum rating conditions for extended periods may affect
device reliability.
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