参数资料
型号: SFH483L/ME7800
元件分类: 红外LED
英文描述: 4.2 mm, 1 ELEMENT, INFRARED LED, 880 nm
封装: ROHS COMPLIANT, PLASTIC, TO-18, 2 PIN
文件页数: 4/7页
文件大小: 207K
代理商: SFH483L/ME7800
2007-12-07
4
SFH 483 L/M E7800
Strahlstrke I
e in Achsrichtung (gemessen bei einem Raumwinkel = 0.01 sr)
Radiant Intensity I
e in Axial Direction (at a solid angle of = 0.01 sr)
Bezeichnung
Parameter
Symbol
Werte
Values
Einheit
Unit
SFH 483-L E7800
SFH483-M E7800
Strahlstrke
1)
Radiant intensity
I
F = 100 mA, tp = 20 ms
I
e min
I
e max
1
2
1.6
3.2
mW/sr
1)
Die Messung der Strahlstrke und des Halbwinkels erfolgt mit einer Lochblende vor dem Bauteil (Durchmesser der
Lochblende: 1,1 mm; Abstand Lochblende zu Gehuserückseite: 4,0 mm). Dadurch wird sichergestellt, dass bei
der Strahlstrkemessung nur diejenige Strahlung in Achsrichtung bewertet wird, die direkt von der Chipoberflche
austritt. Von der Bodenplatte reflektierte Strahlung (vagabundierende Strahlung) wird dagegen nicht bewertet. Diese
Reflexionen sind besonders bei Abbildungen der Chipoberflche über Zusatzoptiken strend (z.B. Lichtschranken
gro
βer Reichweite). In der Anwendung werden im allgemeinen diese Reflexionen ebenfalls durch Blenden
unterdrückt. Durch dieses, der Anwendung entsprechende, Messverfahren ergibt sich für den Anwender eine
besser verwertbare Gre. Diese Lochblendenmessung ist gekennzeichnet durch den Eintrag E 7800“, der an die
Typenbezeichnung angehngt ist.
1)
An aperture is used in front of the component for measurement of the radiant intensity and the half angle (diameter
of the aperture: 1.1 mm; distance of aperture to case back side: 4.0 mm). This ensures that solely the radiation in
axial direction emitting directly from the chip surface will be evaluated during measurement of the radiant intensity.
Radiation reflected by the bottom plate (stray radiation) will not be evaluated. These reflections impair the projection
of the chip surface by additional optics (e.g. long-range light reflection switches). In respect of the application of the
component, these reflections are generally suppressed by apertures as well. This measuring procedure
corresponding with the application provides more useful values. This aperture measurement is denoted by “E 7800”
added to the type designation.
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