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参数资料
| 型号： | SN74LVTH182516 |
| 厂商： | Texas Instruments, Inc. |
| 英文描述： | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Universal Bus Transceivers(3.3V ABT扫描测试装置(18位通用总线收发器)) |
| 中文描述： | 的3.3V ABT生根粉扫描测试设备与18位通用总线收发器（3.3V的ABT生根粉扫描测试装置（18位通用总线收发器）） |
| 文件页数： | 23/36页 |
| 文件大小： | 769K |
| 代理商： | SN74LVTH182516 |
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SN54LVTH18516, SN54LVTH182516, SN74LVTH18516, SN74LVTH182516
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES
WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
SCBS672B – AUGUST 1996 – REVISED JUNE 1997
23
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
simultaneous PSA and binary count up (PSA/COUNT)
Data appearing at the selected device input-mode I/O pins is compressed into an 18-bit parallel signature in
the shift-register elements of the selected input-mode BSCs on each rising edge of TCK. At the same time, an
18-bit binary count-up pattern is generated in the shift-register elements of the selected output-mode BSCs on
each rising edge of TCK, updated in the shadow latches, and applied to the associated device I/O pins on each
falling edge of TCK. Figures 12 and 13 illustrate the 18-bit linear-feedback shift-register algorithms through
which the signature is generated. An initial seed value should be scanned into the BSR before performing this
operation.
B8-I/O
B7-I/O
B6-I/O
B5-I/O
B4-I/O
B3-I/O
B2-I/O
B1-I/O
B9-I/O
A7-I/O
A6-I/O
A5-I/O
A4-I/O
A3-I/O
A2-I/O
A1-I/O
A8-I/O
A9-I/O
A16-I/O
A15-I/O
A14-I/O
A13-I/O
A12-I/O
A11-I/O
A10-I/O
A17-I/O
A18-I/O
B17-I/O
B16-I/O
B15-I/O
B14-I/O
B13-I/O
B12-I/O
B11-I/O
B10-I/O
B18-I/O
MSB
LSB
=
=
Figure 12. 18-Bit PSA/COUNT Configuration (OEAB = 0, OEBA = 1)
P
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| SN54LVTH18640 | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Inverting Bus Transceivers(3.3V ABT 扫描检测装置(18位反相总线收发器)) |
| SN54LVTH182640 | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Inverting Bus Transceivers(3.3V ABT 扫描检测装置(18位反相总线收发器)) |
| SN74LVTH182640 | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Inverting Bus Transceivers(3.3V ABT 扫描检测装置(18位反相总线收发器)) |
| SN74LVTH18640 | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Inverting Bus Transceivers(3.3V ABT 扫描检测装置(18位反相总线收发器)) |
| SN54LVTH18646A | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Transceivers and Registers(3.3V ABT 扫描检测装置(18位收发器和寄存器)) |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| SN74LVTH182646APM | 功能描述:特定功能逻辑 18bit ABT 3.3V RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品: 系列:SN74ABTH18502A 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:LQFP-64 封装:Tube |
| SN74LVTH182652APM | 功能描述:特定功能逻辑 10-Bit Bus Interface F-F W/3-State Otpt RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品: 系列:SN74ABTH18502A 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:LQFP-64 封装:Tube |
| SN74LVTH18502APM | 功能描述:特定功能逻辑 3.3-V ABT w/18-Bit Univ Bus Transceiver RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品: 系列:SN74ABTH18502A 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:LQFP-64 封装:Tube |
| SN74LVTH18502APMG4 | 功能描述:特定功能逻辑 3.3-V ABT w/18-Bit Univ Bus Transceiver RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品: 系列:SN74ABTH18502A 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:LQFP-64 封装:Tube |
| SN74LVTH18502APMR | 功能描述:特定功能逻辑 10-Bit Bus/MOS Mem Drv RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品: 系列:SN74ABTH18502A 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:LQFP-64 封装:Tube |
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