参数资料
型号: SPC5516EBMLQ66
厂商: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC
元件分类: 微控制器/微处理器
英文描述: 32-BIT, FLASH, 66 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP144
封装: 20 X 20 MM, 1.40 MM HEIGHT, 0.50 MM PITCH, LQFP-144
文件页数: 32/59页
文件大小: 729K
代理商: SPC5516EBMLQ66
MPC5510 Microcontroller Family Data Sheet, Rev. 3
Electrical Characteristics
Freescale Semiconductor
38
2.13.3
JTAG (IEEE 1149.1) Interface
Figure 8. JTAG Test Clock Input Timing
Table 21. JTAG Interface Timing1
1 These specifications apply to JTAG boundary scan only. JTAG timing specified at VDDE = 3.0V to 5.5V, T
A = TL to TH, and CL
= 30pF with SRC = 0b11.
Num
Characteristic
Symbol
Min
Max
Unit
1TCK Cycle Time
tJCYC
100
ns
2
TCK Clock Pulse Width (Measured at VDDE/2)
tJDC
40
60
ns
3
TCK Rise and Fall Times (40% – 70%)
tTCKRISE
—3
ns
4
TMS, TDI Data Setup Time
tTMSS, tTDIS
5—
ns
5
TMS, TDI Data Hold Time
tTMSH, tTDIH
25
ns
6
TCK Low to TDO Data Valid
tTDOV
—20
ns
7
TCK Low to TDO Data Invalid
tTDOI
0—
ns
8
TCK Low to TDO High Impedance
tTDOHZ
—20
ns
9
JCOMP Assertion Time
tJCMPPW
100
ns
10
JCOMP Setup Time to TCK Low
tJCMPS
40
ns
11
TCK Falling Edge to Output Valid
tBSDV
—50
ns
12
TCK Falling Edge to Output Valid out of High Impedance
tBSDVZ
—50
ns
13
TCK Falling Edge to Output High Impedance
tBSDHZ
—50
ns
14
Boundary Scan Input Valid to TCK Rising Edge
tBSDST
50
ns
15
TCK Rising Edge to Boundary Scan Input Invalid
tBSDHT
50
ns
TCK
1
2
3
2
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