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参数资料
| 型号： | ST72C254G1M6 |
| 厂商： | STMICROELECTRONICS |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, FLASH, 8 MHz, MICROCONTROLLER, PDSO28 |
| 封装： | 0.300 INCH, PLASTIC, SOIC-28 |
| 文件页数： | 135/136页 |
| 文件大小： | 929K |
| 代理商： | ST72C254G1M6 |
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ST72104G, ST72215G, ST72216G, ST72254G
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FUNCTIONAL OPERATING CONDITIONS (Cont’d)
Figure 56. High LVD Threshold Versus V
DD and f
OSC for ROM devices
2)
Figure 57. Medium LVD Threshold Versus V
DD and f
OSC for ROM devices
2)
Figure 58. Low LVD Threshold Versus V
DD and f
OSC for ROM devices
2)3)
Notes:
1. LVD typical data are based on TA=25°C. They are given only as design guidelines and are not tested.
2. The minimum VDD rise time rate is needed to insure a correct device power-on and LVD reset. Not tested in production.
3. If the low LVD threshold is selected, when VDD falls below 3.2V, the device is guaranteed to be either functioning or
under reset.
fOSC [MHz]
SUPPLY VOLTAGE [V]
16
8
0
2.5
3
3.5
4
4.5
5
5.5
FUNCTI ONAL AREA
DEVICE UNDER
RESET
IN THIS AREA
FUNCTI ONALITY
NOT GUARAN TEED
IN THIS AREA
VIT-≥3.85
fOSC [MHz]
SUPPLY VOLTAGE [V]
16
8
0
2.5
3
VIT-≥3.5V
4
4.5
5
5.5
FUNCTI ONAL AREA
DEVICE UNDER
RESET
IN THIS AREA
FUNCTI ONALITY
NOT GUARAN TEED
IN THIS AREA
fOSC [MHz]
SUPPLY VOLTAGE [V]
16
8
0
2.5
VIT-≥3.00V
3.5
4
4.5
5
5.5
FUNCTI ONAL AREA
DEVICE UNDER
RESET
IN THIS AREA
FUNCTI ONALITY
NOT GUARAN TEED
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PDF描述 |
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