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参数资料
| 型号： | ST7FMC2M9T6 |
| 厂商： | STMICROELECTRONICS |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, FLASH, 8 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP80 |
| 封装： | 14 X 14 MM, LQFP-80 |
| 文件页数： | 84/311页 |
| 文件大小： | 6511K |
| 代理商： | ST7FMC2M9T6 |
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ST7MC1/ST7MC2
174/308
MOTOR CONTROLLER (Cont’d)
10.6.7.4 Built-in Checks and Controls for
simulated events
As described in Figure 91. on page 167, MZREG,
MDREG and MCOMP registers are capture/com-
pare registers. The Compare registers are write
accessible and can be used to generate simulated
events. The value of the MTIM timer is compared
with the value written in the registers and when the
MTIM value reaches the corresponding register
value, the simulated event is generated. Simulated
event generation is enabled when the correspond-
ing bits are set:
– In the MCRB register for simulated demagneti-
sation
– SDM for simulated demagnetisation
– In the MCRC register for simulated zero-crossing
and commutation.
– SC for simulated commutation
– SZ for simulated zero-crossing event.
To avoid a system stop, special attention is need-
ed when writing in the register to generate the cor-
responding simulated event. The value written in
the register has to be greater than the current val-
ue of the MTIM timer when writing in the registers.
If the value written in the registers (MDREG,
MZREG or MCOMP) is already less than the cur-
rent value of MTIM, the simulated event will never
be generated and the system will be stopped.
For this reason, built-in checks and controls have
been implemented in the MTIM timer.
If the value written in one of those registers in sim-
ulated event generation mode is less than or equal
to the current value of the timer when it is com-
pared, the simulated event is generated immedi-
ately and the value of the MTIM timer at the time
the simulated event occurs overwrites the value in
the registers. Like that the value in the register re-
ally corresponds to the simulated event generation
and can be re-used to generate the next simulated
event.
So, the value written in the registers able to gener-
ate simulated events is checked by hardware and
compare to the current MTIM value to verify that it
is greater.
Figure 95. Simulated demagnetisation / zero-crossing event generation
(SC=0)
CH
ZH
DS
During C interrupt
Simulated or Hardware D/Z events
Value written in MDREG/MZREG if
simulated event generation
DH
ZH
DS
ZS
After C interrupt
MDREG value checked
if MDREG<=MTIM
Immediate DS generation
After D interrupt
MZREG value checked
if MZREG<=MTIM
Immediate ZS generation
ZS Simulated zero-crossing
DS Simulated demagnetisation
ZH Hardware zero-crossing
CH Hardware commutation
MTI
M
Time
rValue
t
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PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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| ST7FMC2N2B6 | 制造商:STMICROELECTRONICS 制造商全称:STMicroelectronics 功能描述:8-bit MCU with nested interrupts, Flash, 10-bit ADC, brushless motor control, five timers, SPI, LINSCI? |
| ST7FMC2N2T3 | 制造商:STMICROELECTRONICS 制造商全称:STMicroelectronics 功能描述:8-bit MCU with nested interrupts, Flash, 10-bit ADC, brushless motor control, five timers, SPI, LINSCI? |
| ST7FMC2N2T6 | 制造商:STMICROELECTRONICS 制造商全称:STMicroelectronics 功能描述:8-bit MCU with nested interrupts, Flash, 10-bit ADC, brushless motor control, five timers, SPI, LINSCI? |
| ST7FMC2N4B3 | 制造商:STMICROELECTRONICS 制造商全称:STMicroelectronics 功能描述:8-bit MCU with nested interrupts, Flash, 10-bit ADC, brushless motor control, five timers, SPI, LINSCI? |
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