参数资料
型号: SY10H841ZC
厂商: Micrel Inc
文件页数: 3/7页
文件大小: 0K
描述: IC CLK BUFFER 1:4 160MHZ 16-SOIC
标准包装: 47
系列: Precision Edge®
类型: 扇出缓冲器(分配)
电路数: 1
比率 - 输入:输出: 1:4
差分 - 输入:输出: 是/是
输入: PECL
输出: TTL
频率 - 最大: 160MHz
电源电压: 4.75 V ~ 5.25 V
工作温度: 0°C ~ 85°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 16-SOIC(0.295",7.50mm 宽)
供应商设备封装: 16-SOIC
包装: 管件
3
Precision Edge
SY10H841
SY100H841
Micrel, Inc.
M9999-032906
hbwhelp@micrel.com or (408) 955-1690
VCC AND CLOAD
Symbol
Parameter
Min.
Typ.
Max.
Unit
Condition
PW
Ranges of VCC and CL to meet min.
VCC
4.75
5.0
5.25
V
All Outputs
pulse width (HIGH or LOW) at
CL
10
50
pF
fOUT
≤ 40MHz
PW
11
ns
PW
Ranges of VCC and CL to meet min.
VCC
4.875
5.0
5.125
V
All Outputs
pulse width (HIGH or LOW) at
CL
15
27
pF
fOUT
≤ 50MHz
PW
9.0
ns
Ranges to meet duty cycle requirement: 0
°C ≤ TA ≤ 85°C. Output duty cycle measured relative to 1.5V.
DC CHARACTERISTICS
VT = VE = 5.0V
± 5%
TA = 0
°CTA = +25°CTA = +85°C
Symbol
Parameter
Min.
Max.
Min.
Max.
Min.
Max.
Unit
Condition
IEE
Power Supply Current
ECL
40
40
40
mA
VE Pin
ICCH
Power Supply Current
TTL
20
20
20
mA
Total all VT pins
ICCL
—25—
25
—25
TRUTH TABLE
D
LEN
EN
Q
LLL
L
HL
L
H
XX
H
L
X
H
L
Latch
Pin
Symbol
Description
1
LEN
Latch Enable Input
2
EN
Enable Input (PECL)
3GE
ECL Ground (0V)
4VE
ECL VCC (+5.0V)
5
D
ECL Signal Input (Non-inverting)
6
D
ECL Signal Input (Inverting)
7VBB
VBB Reference Output (PECL)
8GT
TTL Ground (0V)
9Q0
Signal Output (TTL)
10
GT
TTL Ground (0V)
11
Q1
Signal Output (TTL)
12
VT
TTL VCC (+5.0V)
13
VT
TTL VCC (+5.0V)
14
Q2
Signal Output (TTL)
15
GT
TTL Ground (0V)
16
Q3
Signal Output (TTL)
PIN DESCRIPTION
Symbol
Rating
Value
Unit
VE (ECL)
Power Supply
–0.5 to +7.0
V
VT (TTL)
Voltage
–0.5 to +7.0
VI (ECL)
Input Voltage
0.0 to VEE
V
VOUT (TTL)
0.0 to VT
TLEAD
Lead Temperature
+260
C
Range (soldering, 20sec)
Tstore
Storage Temperature
–65 to +150
C
TA
Operating Temperature
0 to +85
C
NOTE:
1. Permanent device damage may occur if absolute maximum ratings are
exceeded. This is a stress rating only and functional operation is not
implied at conditions other than those detailed in the operational sections
of this data sheet. Exposure to absolute maximum ratlng conditions for
extended periods may affect device reliability.
ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS(1)
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