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参数资料
| 型号： | TS8387MF_ |
| 元件分类： | ADC |
| 英文描述： | 1-CH 8-BIT PROPRIETARY METHOD ADC, PARALLEL ACCESS, CQFP68 |
| 封装： | CERAMIC, QFP-68 |
| 文件页数： | 2/38页 |
| 文件大小： | 617K |
| 代理商： | TS8387MF_ |
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TS8387
10/38
3.4.
EXPLANATION OF TEST LEVELS
D
100 % wafer tested at +25
°C (*)
I
100% production tested at +25
°C (*) (for packaged device).
II
100 % production tested at +25
°C (*), and sample tested at specified temperatures
III
Sample tested only at specified temperatures
IV
Parameter is guaranteed by design and characterization testing (thermal steady–state conditions
at specified temperature).
V
Parameter is a typical value only
VI
100 % production tested over specified temperature range.
Only MIN and MAX values are guaranteed (typical values are issuing from characterization results).
* Unless otherwise specified, all tests are pulsed tests : therefore Tj = Tc = Ta
3.5.
INDUSTRIAL WAFER SCREENING LIMITS
Parameter
Temperature
JTS8387 chip
Unit
Min
Max
DC Accuracy @ 50 MPSPS / 10 MHz
DNL
25
°C (*)
–0.56
+0.56
LSB
INL
25
°C ()
–1.23
+1.23
LSB
No missing codes
Guaranteed
AC Performance
@ TBD MPSPS / TBD MHz
25
°C (*)
SNR
25
°C ()
TBD
dB
ENOB
TBD
bit
* Unless otherwise specified, all tests are pulsed tests : therefore Tj = Tc = Ta
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| TS8387MFB/C | 1-CH 8-BIT PROPRIETARY METHOD ADC, PARALLEL ACCESS, CQFP68 |
| TS(X)8387VF | 1-CH 8-BIT PROPRIETARY METHOD ADC, PARALLEL ACCESS, CQFP68 |
| TS(X)8387VF_ | 1-CH 8-BIT PROPRIETARY METHOD ADC, PARALLEL ACCESS, CQFP68 |
| TS(X)8387MF | 1-CH 8-BIT PROPRIETARY METHOD ADC, PARALLEL ACCESS, CQFP68 |
| TS(X)8387MF_ | 1-CH 8-BIT PROPRIETARY METHOD ADC, PARALLEL ACCESS, CQFP68 |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| TS8388B | 制造商:ATMEL 制造商全称:ATMEL Corporation 功能描述:ADC 8-bit 1 GSPS |
| TS8388BCF | 制造商:e2v technologies 功能描述:ADC 8-BIT 1 GSPS - Trays |
| TS8388BCFS | 制造商:e2v technologies 功能描述:ADC 8-BIT 1 GSPS - Trays |
| TS8388BCG | 制造商:未知厂家 制造商全称:未知厂家 功能描述:A/D CONVERTER |
| TS8388BCGL | 制造商:e2v technologies 功能描述:ADC 8-BIT 1 GSPS - Trays |
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