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参数资料
| 型号： | WMS512K8V-85 |
| 英文描述： | 512Kx8 Monolithic SRAM(512Kx8单片静态RAM（存取时间85ns）) |
| 中文描述： | 512Kx8单片的SRAM（512Kx8单片静态随机存储器（存取时间85ns）） |
| 文件页数： | 3/6页 |
| 文件大小： | 68K |
| 代理商： | WMS512K8V-85 |
White Microelectronics Phoenix, AZ (602) 437-1520
2
S
3
AC CHARACTERISTICS
(V
CC
= 3.3V, GND = 0V, T
A
= -55
°
C to +125
°
C)
WMS512K8V-XXX
AC CHARACTERISTICS
(V
CC
= 3.3V, GND = 0V, T
A
= -55
°
C to +125
°
C)
Parameter
Symbol
-70
-85
-100
-120
Units
Read Cycle
Min
Max
Min
Max
Min
Max
Min
Max
Read Cycle Time
t
RC
70
85
100
120
ns
Address Access Time
t
AA
70
85
100
120
ns
Output Hold from Address Change
t
OH
5
5
5
5
ns
Chip Select Access Time
t
ACS
70
85
100
120
ns
Output Enable to Output Valid
t
OE
35
40
50
60
ns
Chip Select to Output in Low Z
t
CLZ
1
10
10
10
10
ns
Output Enable to Output in Low Z
t
OLZ
1
5
5
5
5
ns
Chip Disable to Output in High Z
t
CHZ
1
25
25
35
35
ns
Output Disable to Output in High Z
t
OHZ
1
25
25
35
35
ns
1. This parameter is guaranteed by design but not tested.
Parameter
Symbol
-70
-85
-100
-120
Units
Write Cycle
Min
Max
Min
Max
Min
Max
Min
Max
Write Cycle Time
t
WC
70
85
100
120
ns
Chip Select to End of Write
t
CW
60
75
80
100
ns
Address Valid to End of Write
t
AW
60
75
80
100
ns
Data Valid to End of Write
t
DW
30
35
40
40
ns
Write Pulse Width
t
WP
50
50
60
60
ns
Address Setup Time
t
AS
0
0
0
0
ns
Address Hold Time
t
AH
5
5
5
5
ns
Output Active from End of Write
t
OW
1
5
5
5
5
ns
Write Enable to Output in High Z
t
WHZ
1
25
25
35
35
ns
Data Hold from Write Time
t
DH
0
0
0
0
ns
1. This parameter is guaranteed by design but not tested.
I
Current Source
D.U.T.
C = 50 pf
I
OL
V
≈
1.5V
(Bipolar Supply)
Z
Current Source
OH
NOTES:
V
Z
is programmable from-2V to +7V.
I
OL
& I
OH
programmable from0 to 16mA.
Tester Impedance Z
0
= 75
.
V
Z
is typically the mdpoint of V
OH
and V
OL
.
I
OL
& I
OH
are adjusted to simulate a typical resistive load circuit.
ATE tester includes jig capacitance.
AC TEST CIRCUIT
Parameter
Input Pulse Levels
Input Rise and Fall
Input and Output Reference Level
Output Timing Reference Level
Typ
Unit
V
ns
V
V
V
IL
= 0, V
IH
= 3.0
5
1.5
1.5
AC TEST CONDITIONS
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