参数资料
| 型号： | X9313USM |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 9/12页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC XDCP 32-TAP 50K 3-WIRE 8-SOIC |
| 标准包装： | 100 |
| 系列： | XDCP™ |
| 接片： | 32 |
| 电阻（欧姆）： | 50k |
| 电路数： | 1 |
| 温度系数： | 标准值 ±300 ppm/°C |
| 存储器类型： | 非易失 |
| 接口： | 3 线串行（芯片选择，递增，增/减） |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 8-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 8-SOIC |
| 包装： | 管件 |
6
FN8177.6
January 15, 2008
DC Electrical Specifications
Over recommended operating conditions, unless otherwise stated.
SYMBOL
PARAMETER
TEST CONDITIONS/NOTES
LIMITS
UNIT
MIN
TYP
(Note 4)
MAX
ICC
VCC Active Current
CS = VIL, U/D = VIL or VIH and
INC = 0.42/2.4V @ max tCYC
13
mA
ISB
Standby Supply Current
CS = VCC - 0.3V, U/D and INC = VSS or
VCC - 0.3V
200
500
A
ILI
CS, INC, U/D Input Leakage Current
VIN = VSS to VCC
±10
A
VIH
CS, INC, U/D Input HIGH Current
2
V
VIL
CS, INC, U/D Input LOW Current
+0.8
V
CIN
(Note 5)
CS, INC, U/D Input Capacitance
VCC = 5V, VIN = VSS, TA = +25°C,
f = 1MHz
10
pF
Endurance and Data Retention
PARAMETER
MIN
UNIT
Minimum endurance
100,000
Data changes per bit
per register
Data retention
100
Years
FIGURE 1. TEST CIRCUIT #1
FIGURE 2. TEST CIRCUIT #2
FIGURE 3. CIRCUIT #3 SPICE MACRO
MODEL
TEST POINT
VW/RW
VH/RH
VL/RL
VS
FORCE
CURRENT
VW
TEST POINT
VH/RH
VW/RW
VL/RL
CH
CL
RW
10pF
RH
RL
RTOTAL
CW
25pF
X9313
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