参数资料
| 型号： | X93154UU8IZ-3T1 |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 4/9页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC POT DGTL LP LN 50K OHM 8-TDFN |
| 产品培训模块： | Digitally Controlled Potentiometers |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | XDCP™ |
| 接片： | 32 |
| 电阻（欧姆）： | 50k |
| 电路数： | 1 |
| 温度系数： | 标准值 ±35 ppm/°C |
| 存储器类型： | 非易失 |
| 接口： | 3 线串行（芯片选择，递增，增/减） |
| 电源电压： | 2.7 V ~ 3.3 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 8-WFDFN 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 8-TDFN（2.5x2.0） |
| 包装： | 剪切带 (CT) |
| 其它名称： | X93154UU8IZ-3T1CT |
4
FN8180.3
February 19, 2008
Test Circuit #1
Circuit #2 SPICE Macro Model
ILI
CS
VIN = VCC
±1
A
ILI
CS
VCC = 3V, CS = 0
60
100
150
A
ILI
INC, U/D Input Leakage Current
VIN = VSS to VCC
±1
A
VIH
CS, INC, U/D Input HIGH Voltage
VCC x 0.7
VCC + 0.5
V
VIL
CS, INC, U/D Input LOW Voltage
-0.5
VCC x 0.1
V
CIN
(Note 5)
CS, INC, U/D Input Capacitance
VCC = 3V, VIN = VSS, TA = +25°C, f = 1MHz
10
pF
DC Electrical Specifications
Over recommended operating conditions, unless otherwise specified. (Continued)
SYMBOL
PARAMETER
TEST CONDITIONS
MIN
(Note 7)
TYP
(Note 4)
MAX
(Note 7)
UNIT
Endurance and Data Retention
PARAMETER
MIN
UNIT
Minimum endurance
200,000
Data changes per bit
Data retention
100
Years
VL
TEST POINT
VH/RH
AC Conditions of Test
Input pulse levels
0V to 3V
Input rise and fall times
10ns
Input reference levels
1.5V
CH
CL
10pF
RH
RTOTAL
CW
25pF
RL
AC Electrical Specifications
Over recommended operating conditions unless otherwise specified.
SYMBOL
PARAMETER
MIN
(Note 7)
TYP
(Note 4)
MAX
(Note 7)
UNIT
tCl
CS to INC Setup
100
ns
tlD
INC HIGH to U/D Change
100
ns
tDI
U/D to INC Setup
100
ns
tlL
INC LOW Period
1
s
tlH
INC HIGH Period
1
s
tlC
INC Inactive to CS Inactive
1
s
tCPH
CS Deselect Time (No Store)
250
ns
tCPH
CS Deselect Time (Store)
10
ms
tCYC
INC Cycle Time
2
s
tR, tF
(Note 5)
INC Input Rise and Fall Time
500
s
tR VCC
(Note 5)
VCC Power-up Rate
1.0
50
V/ms
tWR
Store Cycle
510
ms
X93154
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