参数资料
| 型号： | X9319US8Z |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 5/10页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC XDCP 100-TAP 50K 8-SOIC |
| 标准包装： | 100 |
| 系列： | XDCP™ |
| 接片： | 100 |
| 电阻（欧姆）： | 50k |
| 电路数： | 1 |
| 温度系数： | 标准值 ±300 ppm/°C |
| 存储器类型： | 非易失 |
| 接口： | 3 线串行（芯片选择，递增，增/减） |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 8-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 8-SOIC |
| 包装： | 管件 |
4
FN8185.2
September 26, 2006
ENDURANCE AND DATA RETENTION
(VCC = 5V ±10%, TA = Full Operating Temperature Range)
Notes: (1) Absolute linearity is utilized to determine actual wiper voltage versus expected voltage = [V(RW(n)(actual)) - V(RW(n)(expected))]/MI
V(RW(n)(expected)) = n(V(RH) - V(RL))/99 + V(RL), with n from 0 to 99.
(2) Relative linearity is a measure of the error in step size between taps = [V(RW(n+1)) - (V(RW(n)) - MI)]/MI
(3) 1 Ml = Minimum Increment = [V(RH) - V(RL)]/99.
(4) Typical values are for TA = 25C and nominal supply voltage.
(5) Guaranteed by device characterization.
(6) Ratiometric temperature coefficient = (V(RW)T1(n) - V(RW)T2(n))/[V(RW)T1(n)(T1 - T2) x 106], with T1 & T2 being 2 temperatures,
and n from 0 to 99.
(7) Measured with wiper at tap position 31, RL grounded, using test circuit.
A.C. CONDITIONS OF TEST
Parameter
Min.
Unit
Minimum endurance
100,000
Data changes per bit
Data retention
100
Years
Input pulse levels
0.8V to 2.0V
Input rise and fall times
10ns
Input reference levels
1.4V
Test Circuit
Equivalent Circuit
Force
Current
Test Point
RW
CH
CL
RW
10pF
RTOTAL
CW
25pF
RH
RL
X9319
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PDF描述 |
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