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参数资料
| 型号： | XC5VFX70T-1FF1136CES |
| 厂商： | Xilinx Inc |
| 文件页数： | 32/91页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGAVIRTEX5FX ES 70K 1136FBGA |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | Virtex®-5 FXT |
| LAB/CLB数： | 5600 |
| 逻辑元件/单元数： | 71680 |
| RAM 位总计： | 5455872 |
| 输入/输出数： | 640 |
| 电源电压： | 0.95 V ~ 1.05 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 工作温度： | 0°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 1136-BBGA，FCBGA |
| 供应商设备封装： | 1136-FCBGA |
| 配用： | 568-5088-ND - BOARD DEMO DAC1408D750 DK-V5-EMBD-ML507-G-J-ND - DEV KIT V5 W/ISM & EDK JAPAN DK-V5-EMBD-ML507-G-ND - DEV KIT V5 W/ISM & EDK 122-1586-ND - BOARD EVAL FOR VIRTEX-5 ML555 HW-V5-ML507-UNI-G-ND - EVAL PLATFORM V5 FXT HW-AFX-FF1136-500-G-ND - BOARD DEV VIRTEX 5 FF1136 |
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Virtex-5 FPGA Data Sheet: DC and Switching Characteristics
DS202 (v5.3) May 5, 2010
Product Specification
38
Output Delay Measurements
Output delays are measured using a Tektronix P6245
TDS500/600 probe (< 1 pF) across approximately 4” of FR4
microstrip trace. Standard termination was used for all
testing. The propagation delay of the 4” trace is
characterized separately and subtracted from the final
measurement, and is therefore not included in the
Measurements and test conditions are reflected in the IBIS
models except where the IBIS format precludes it.
Parameters VREF, RREF, CREF, and VMEAS fully describe
the test conditions for each I/O standard. The most accurate
prediction of propagation delay in any given application can
be obtained through IBIS simulation, using the following
method:
1.
Simulate the output driver of choice into the generalized
test setup, using values from Table 59.
2.
Record the time to VMEAS.
3.
Simulate the output driver of choice into the actual PCB
trace and load, using the appropriate IBIS model or
capacitance value to represent the load.
4.
Record the time to VMEAS.
5.
decrease in delay yields the actual propagation delay of
the PCB trace.
X-Ref Target - Figure 11
Figure 11: Single Ended Test Setup
VREF
RREF
VMEAS
(voltage level when taking
delay measurement)
CREF
(probe capacitance)
FPGA Output
DS202_06_111608
X-Ref Target - Figure 12
Figure 12: Differential Test Setup
RREF VMEAS
+
–
CREF
FPGA Output
ds202_12_042808
Table 59: Output Delay Measurement Methodology
Description
I/O Standard
Attribute
RREF
(
Ω)
CREF(1)
(pF)
VMEAS
(V)
VREF
(V)
LVTTL (Low-Voltage Transistor-Transistor Logic)
LVTTL (all)
1M
0
1.4
0
LVCMOS (Low-Voltage CMOS), 3.3V
LVCMOS33
1M
0
1.65
0
LVCMOS, 2.5V
LVCMOS25
1M
0
1.25
0
LVCMOS, 1.8V
LVCMOS18
1M
0
0.9
0
LVCMOS, 1.5V
LVCMOS15
1M
0
0.75
0
LVCMOS, 1.2V
LVCMOS12
1M
0
0.6
0
PCI (Peripheral Component Interface), 33 MHz, 3.3V
PCI33_3 (rising edge)
25
10(2)
0.94
0
PCI33_3 (falling edge)
25
10(2)
2.03
3.3
PCI, 66 MHz, 3.3V
PCI66_3 (rising edge)
25
10(2)
0.94
0
PCI66_3 (falling edge)
25
10(2)
2.03
3.3
PCI-X, 133 MHz, 3.3V
PCIX (rising edge)
25
10(3)
0.94
PCIX (falling edge
25
10(3)
2.03
3.3
GTL (Gunning Transceiver Logic)
GTL
25
0
0.8
1.2
GTL Plus
GTLP
25
0
1.0
1.5
HSTL (High-Speed Transceiver Logic), Class I
HSTL_I
50
0
VREF
0.75
HSTL, Class II
HSTL_II
25
0
VREF
0.75
HSTL, Class III
HSTL_III
50
0
0.9
1.5
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