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参数资料
| 型号： | XE1283I076TRLF |
| 厂商： | Semtech |
| 文件页数： | 9/25页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC TXRX UHF LOW POWER 72-LFBGA |
| 标准包装： | 1 |
| 频率： | 433MHz，868MHz，915MHz |
| 数据传输率 - 最大： | 152.3kbps |
| 调制或协议： | FSK |
| 应用： | AMR，ISM，家庭自动化，程序控制 |
| 功率 - 输出： | 0 ~ 15dBm |
| 灵敏度： | -113dBm |
| 电源电压： | 2.4 V ~ 3.6 V |
| 电流 - 接收： | 14mA |
| 电流 - 传输： | 40mA |
| 数据接口： | PCB，表面贴装 |
| 存储容量： | 512B RAM |
| 天线连接器： | PCB，表面贴装 |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 72-LFBGA |
| 包装： | 剪切带 (CT) |
| 其它名称： | XE1283I076CT |
XE1283
3 overtone
Symbol
TS_OS
TS_FEI
TS_SYNC_AQ
Description
Quartz oscillator wake-up time
FEI wake-up time
Time for synchronization of the
Conditions
Fundamental
rd
Input power of –106 dBm
Min
-
-
-
-
Typ
0.3
2.5
-
5
Max
0.5
-
2/BR
-
Unit
ms
ms
ms
ms
barker decoder
Data rate = 1154 bps
Chip rate = 12.7 kcps
From Rx enabled
XTAL
FSTEP
Quartz oscillator frequency
Frequency synthesizer step
Fundamental or 3 rd overtone
Exact step is XTAL / 77’824
-
-
39
500
-
-
MHz
Hz
VTHR
Equivalent input thresholds of
Mode A
the RSSI
Low range:VTHR1
VTHR2
VTHR3
High range:VTHR1
VTHR2
VTHR3
-
-
-
-
-
-
-95
-90
-85
-80
-75
-70
-
-
-
-
-
-
dBm
dBm
dBm
dBm
dBm
dBm
SPR
Spurious emission in receiver
(*)
-
-65
-
dBm
mode
VIH
VIL
VOH
VOL
Digital input level high
Digital input level low
Digital output level high
Digital output level low
in % VDD
in % VDD
in % VDD
in % VDD
75
-
75
-
-
-
-
-
-
25
-
25
%
%
%
%
(*) SPR strongly depends on the design of the application board and the choice of the external components. Values down
to -70 dBm can be achieved with careful design.
3.3
3.3.1
MICROCONTROLLER
Absolute maximum ratings
Min.
Max.
Unit
Note
Voltage applied to VBAT with respect to VSS
Voltage applied to VPP with respect to VSS
Voltage applied to all pins except VPP and VBAT
-0.3
VBAT-0.3
VSS-0.3
6.0
12
VBAT+0.3
V
V
V
Stresses beyond the absolute maximal ratings may cause permanent damage to the device. Functional operation at the
absolute maximal ratings is not implied. Exposure to conditions beyond the absolute maximal ratings may affect the
reliability of the device.
? Semtech 2005
9
www.semtech.com
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