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参数资料
| 型号： | 74AHCT30 |
| 厂商： | NXP Semiconductors N.V. |
| 英文描述： | Quadruple 2-Input Positive-AND Gates 14-PDIP -40 to 85 |
| 中文描述： | 8输入与非门 |
| 文件页数： | 9/16页 |
| 文件大小： | 75K |
| 代理商： | 74AHCT30 |
1999 Nov 30
9
Philips Semiconductors
Product specification
8-input NAND gate
74AHC30; 74AHCT30
AC WAVEFORMS
handbook, halfpage
E, F, G, H
MNA491
tPHL
tPLH
VM
VM
input
Y output
Fig.5 The input (A, B, C, D, E, F, G and H) to output (Y) propagation delays.
FAMILY
V
I
INPUT
REQUIREMENTS
V
M
INPUT
V
M
OUTPUT
AHC
AHCT
GND to V
CC
GND to 3.0 V
50% V
CC
1.5 V
50% V
CC
50% V
CC
Fig.6 Test circuitry for switching times.
TEST
S1
t
PLH
/t
PHL
t
PLZ
/t
PZL
t
PHZ
/t
PZH
open
V
CC
GND
handbook, full pagewidth
open
GND
VCC
VCC
VI
VO
MNA183
D.U.T.
CL
RT
1000
PULSE
GENERATOR
S1
Definitions for test circuit:
C
L
= load capacitance including jig and probe capacitance (See Chapter “AC characteristics”);
R
T
= termination resistance should be equal to the output impedance Z
o
of the pulse generator.
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