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参数资料
| 型号： | 74LVC1G00GM,115 |
| 厂商： | NXP Semiconductors |
| 文件页数： | 18/19页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SNGL 2-IN NAND GATE 6-XSON |
| 产品培训模块： | Logic Packages |
| 标准包装： | 5,000 |
| 系列： | 74LVC |
| 逻辑类型： | 与非门 |
| 电路数： | 1 |
| 输入数： | 2 |
| 电源电压： | 1.65 V ~ 5.5 V |
| 电流 - 静态（最大值）： | 200µA |
| 输出电流高，低： | 32mA，32mA |
| 逻辑电平 - 低： | 0.7 V ~ 0.8 V |
| 逻辑电平 - 高： | 1.7 V ~ 2 V |
| 额定电压和最大 CL 时的最大传播延迟： | 1.8ns @ 5V，50pF |
| 工作温度： | -40°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 供应商设备封装： | 6-XSON，SOT886（1.45x1） |
| 封装/外壳： | 6-XFDFN |
| 包装： | 带卷 (TR) |
74LVC1G00
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NXP B.V. 2012. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 10 — 2 July 2012
8 of 19
NXP Semiconductors
74LVC1G00
Single 2-input NAND gate
Test data is given in Table 10.
Definitions for test circuit:
RL = Load resistance.
CL = Load capacitance including jig and probe capacitance.
RT = Termination resistance should be equal to the output impedance Zo of the pulse generator.
VEXT = External voltage for measuring switching times.
Fig 9.
Test circuit for measuring switching times
VEXT
VCC
VI
VO
mna616
DUT
CL
RT
RL
G
Table 10.
Test data
Supply voltage
Input
Load
VEXT
VCC
VI
tr =tf
CL
RL
tPLH, tPHL
1.65 V to 1.95 V
VCC
2.0ns
30pF
1k
open
2.3 V to 2.7 V
VCC
2.0ns
30pF
500
open
2.7V
2.5ns
50pF
500
open
3.0V to 3.6V
2.7V
2.5ns
50pF
500
open
4.5 V to 5.5 V
VCC
2.5ns
50pF
500
open
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PDF描述 |
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参数描述 |
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| 74LVC1G00GS | 制造商:NXP Semiconductors 功能描述:IC 2 INPUT NAND GATE XSON6 |
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