参数资料
型号: AD7828BR
厂商: Analog Devices Inc
文件页数: 10/16页
文件大小: 0K
描述: IC ADC 8BIT 8CH HS 28-SOIC
标准包装: 27
位数: 8
采样率(每秒): 50k
数据接口: 并联
转换器数目: 3
功率耗散(最大): 100mW
电压电源: 单电源
工作温度: -40°C ~ 85°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 28-SOIC(0.295",7.50mm 宽)
供应商设备封装: 28-SOIC W
包装: 管件
输入数目和类型: 8 个单端,单极
AD7824/AD7828
REV. F
–3–
TIMING CHARACTERISTICS1 (V
DD = 5 V; VREF(+) = 5 V; VREF(–) = GND = 0 V, unless otherwise noted.)
Limit at 25 C
Limit at TMIN, TMAX
Parameter
(All Grades)
(K, L, B, C Grades)
(T, U Grades)
Unit
Conditions/Comments
tCSS
00
0
ns min
CS to RD Setup Time
tCSH
00
0
ns min
CS to RD Hold Time
tAS
00
0
ns min
Multiplexer Address Setup Time
tAH
30
35
40
ns min
Multiplexer Address Hold Time
tRDY
2
40
60
ns max
CS to RDY Delay. Pull-Up
Resistor 5 k
.
tCRD
2.0
2.4
2.8
s max
Conversion Time, Mode 0
tACC1
3
85
110
120
ns max
Data Access Time after
RD
tACC2
3
50
60
70
ns max
Data Access Time after
INT, Mode 0
tlNTH
2
40
65
70
ns typ
RD to INT Delay
75
100
ns max
tDH
4
60
70
ns max
Data Hold Time
tP
500
600
ns min
Delay Time between Conversions
tRD
60
80
ns min
Read Pulsewidth, Mode 1
600
500
400
ns max
NOTES
1Sample tested at 25
°C to ensure compliance. All input control signals are specified with t
RISE = tFALL = 20 ns (10% to 90% of 5 V) and timed from a voltage level of 1.6 V.
2C
L = 50 pF.
3Measured with load circuits of Figure 1 and defined as the time required for an output to cross 0.8 V or 2.4 V.
4Defined as the time required for the data lines to change 0.5 V when loaded with the circuits of Figure 2.
Specifications subject to change without notice.
Test Circuits
DBN
3k
100pF
DGND
a. High-Z to VOH
DBN
3k
100pF
DGND
5V
b. High-Z to VOL
Figure 1. Load Circuits for Data Access Time Test
DBN
3k
10pF
DGND
a. VOH to High-Z
DBN
3k
10pF
DGND
5V
b. VOL to High-Z
Figure 2. Load Circuits for Data Hold Time Test
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