参数资料
| 型号： | AD8334ACPZ |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 13/56页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC VGA QUAD W/PREAMP 64LFCSP |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | X-AMP® |
| 类型： | 可变增益放大器 |
| 应用： | 信号处理 |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 64-VFQFN 裸露焊盘，CSP |
| 供应商设备封装： | 64-LFCSP-VQ（9x9） |
| 包装： | 管件 |
| 配用： | AD8334-EVALZ-ND - BOARD EVALUATION FOR AD8334 |
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AD8331/AD8332/AD8334
Rev. G | Page 20 of 56
TEST CIRCUITS
MEASUREMENT CONSIDERATIONS
configurations and proper interface values for measurements
with 50 Ω conditions.
Short-circuit input noise measurements are made as shown in
Figure 62. The input-referred noise level is determined by
dividing the output noise by the numerical gain between Point A
and Point B and accounting for the noise floor of the spectrum
analyzer. The gain should be measured at each frequency of
interest and with low signal levels because a 50 Ω load is driven
directly. The generator is removed when noise measurements
are made.
0
31
99
-0
55
LMD
18nF
22pF
FB*
120nH
*FERRITE BEAD
IN
OUT
0.1F
DUT
NETWORK ANALYZER
0.1F
28
237
28
1:1
50
270
INH
237
0.1F
Figure 55. Test Circuit—Gain and Bandwidth Measurements
10k
031
99
-05
6
LMD
18nF
22pF
FB*
120nH
*FERRITE BEAD
IN
OUT
0.1F
VGN
DUT
NETWORK ANALYZER
0.1F
28
237
28
1:1
50
INH
237
0.1F
Figure 56. Test Circuit—Frequency Response for Various Matched Source Impedances
03
19
9-
05
7
LMD
22pF
FB*
120nH
*FERRITE BEAD
IN
OUT
0.1F
VGN
DUT
NETWORK ANALYZER
0.1F
28
237
28
1:1
50
INH
237
0.1F
Figure 57. Test Circuit—Frequency Response for Unterminated LNA, RS = 50 Ω
相关PDF资料 |
PDF描述 |
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