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参数资料
| 型号： | ADM1186-1ARQZ-REEL |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 5/28页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SEQUENCER/MONITOR QUAD 20QSOP |
| 标准包装： | 2,500 |
| 类型： | 序列发生器 |
| 监视电压数目： | 4 |
| 输出： | 开路漏极或开路集电极 |
| 复位： | 高有效 |
| 电压 - 阀值： | 可调节/可选择 |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 20-SSOP（0.154"，3.90mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 20-QSOP |
| 包装： | 带卷 (TR) |
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Data Sheet
ADM1186
Parameter
Min
Typ
Max
Unit
Test Conditions/Comments
SEQ_DONE PIN
Output Low Voltage, V SEQ_DONEL
Leakage Current
V VCC That Guarantees Valid Outputs
1
0.4
1
V
μA
V
V VCC = 2.7 V, I SINK = 2 mA
SEQ_DONE = 5.5 V
Output is guaranteed to be either low (V SEQ_DONEL = 0.4 V)
or giving a valid output level from V VCC = 1 V, I SINK = 30 μA
or V VCC = 1.1 V, I SINK = 100 μA
RESPONSE TIMING
Includes input glitch filter and all other internal
delays
VINx to PWRGD
VINx Going Low to High
VINx Going High to Low
21.9
5.8
28.8
7.3
35.2
8.9
μs
μs
50 mV input overdrive
50 mV input overdrive
VINx to FAULT, OUTx Low
VINx Going High to Low (UV Fault)
UP, DOWN, and UP/DOWN to FAULT,
6.1
5.5
7.5
8.6
9.2
12.1
μs
μs
50 mV input overdrive
100 mV input overdrive
OUTx Low, t UDOUT
External FAULT to OUTx Low
5.8
7.7
10.5
10
μs
μs
1 V input overdrive
1 V input overdrive
Fault Hold Time
35
44
54
μs
UP, UP/DOWN held low
1
Input comparators do not include hysteresis on their inputs. The comparator output passes through a digital glitch filter to remove short transients from the input
signal that would otherwise drive the state machine.
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