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参数资料
| 型号： | AT89C51RD2-IM |
| 厂商： | Atmel Corp. |
| 英文描述： | Hex Inverter 14-SOIC -40 to 125 |
| 中文描述： | 8位闪存微控制器 |
| 文件页数： | 18/24页 |
| 文件大小： | 1379K |
| 代理商： | AT89C51RD2-IM |
AT89C51RD2 / AT89C51ED2 QualPack
18 Rev. 0 – 2003 July
4.4 Device Reliability
4.4.1 Operating Life Testing
AT89C51ED2 test results are summarized in the table below.
Lot
A01948K
AT89C51ED2
PLCC 44
Device Type
Test Description
Step
Result
Comment
EFR Dynamic Life Test
LFR Dynamic Life Test
12h
48h
500h
1000h
0/300
0/300
0/100
0/100
4.4.2 ESD / Latch-up
AT89C51ED2 test results are summarized in the table below.
Lot
A01948
AT89C51ED2
PLCC 44
Device Type
Test Description
Step
Result
Comment
ESD-HBM Model
2000V
3000V
4000V
5000V
5.5v
50mW
0/3
1/3
1/3
1/3
Class 2 of MIL STD 883
LATCH-UP
Over-Voltage
Power Injection
0/5
0/5
Test done at 125°C
Classified latch-up free
4.4.3 FLASH and EEPROM Data Retention and Endurance Cycling
AT89C51ED2 test results are summarized in the table below.
Lot
A01948K
AT89C51ED2
PLCC 44
Device Type
Test Description
Step
Result
Comment
Data Retention
500h
1000h
100kc
100kc
0/50
0/50
Program / Erase
Endurance Cycling
0/30
32k USER memory
Program / Erase
Endurance Cycling
0/30
2k DATA memory
相关PDF资料 |
PDF描述 |
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参数描述 |
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