参数资料
型号: AT93C46-W1.8-11
厂商: ATMEL CORP
元件分类: DRAM
英文描述: Three-wire Serial EEPROMs
中文描述: 64 X 16 MICROWIRE BUS SERIAL EEPROM, UUC
封装: DIE
文件页数: 4/21页
文件大小: 366K
代理商: AT93C46-W1.8-11
4
AT93C46/56/66
0172Z–SEEPR–9/05
Note:
1. This parameter is characterized and is not 100% tested.
Table 4.
AC Characteristics
Applicable over recommended operating range from T
AI
=
40°C to + 85°C, V
CC
= As Specified,
CL = 1 TTL Gate and 100 pF (unless otherwise noted)
Symbol
Parameter
Test Condition
Min
Typ
Max
Units
f
SK
SK Clock
Frequency
4.5V
V
CC
5.5V
2.7V
V
CC
5.5V
1.8V
V
CC
5.5V
4.5V
V
CC
5.5V
2.7V
V
CC
5.5V
1.8V
V
CC
5.5V
4.5V
V
CC
5.5V
2.7V
V
CC
5.5V
1.8V
V
CC
5.5V
4.5V
V
CC
5.5V
2.7V
V
CC
5.5V
1.8V
V
CC
5.5V
0
0
0
2
1
0.25
MHz
t
SKH
SK High Time
250
250
1000
ns
t
SKL
SK Low Time
250
250
1000
ns
t
CS
Minimum CS
Low Time
250
250
1000
ns
t
CSS
CS Setup Time
Relative to SK
4.5V
V
CC
5.5V
2.7V
V
CC
5.5V
1.8V
V
CC
5.5V
4.5V
V
CC
5.5V
2.7V
V
CC
5.5V
1.8V
V
CC
5.5V
50
50
200
ns
t
DIS
DI Setup Time
Relative to SK
100
100
400
ns
t
CSH
CS Hold Time
Relative to SK
0
ns
t
DIH
DI Hold Time
Relative to SK
4.5V
V
CC
5.5V
2.7V
V
CC
5.5V
1.8V
V
CC
5.5V
4.5V
V
CC
5.5V
2.7V
V
CC
5.5V
1.8V
V
CC
5.5V
4.5V
V
CC
5.5V
2.7V
V
CC
5.5V
1.8V
V
CC
5.5V
4.5V
V
CC
5.5V
2.7V
V
CC
5.5V
1.8V
V
CC
5.5V
4.5V
V
CC
5.5V
2.7V
V
CC
5.5V
1.8V
V
CC
5.5V
100
100
400
ns
t
PD1
Output Delay to
“1”
AC Test
250
250
1000
ns
t
PD0
Output Delay to
“0”
AC Test
250
250
1000
ns
t
SV
CS to Status
Valid
AC Test
250
250
1000
ns
t
DF
CS to DO in High
Impedance
AC Test
CS = V
IL
100
100
400
ns
t
WP
Write Cycle Time
10
ms
4.5V
V
CC
5.5V
0.1
3
ms
Endurance
(1)
5.0V, 25°C
1M
Write Cycles
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