参数资料
型号: BAS116,215
厂商: NXP Semiconductors
文件页数: 5/8页
文件大小: 117K
描述: DIODE SW EPITAXIAL MED-SPD SOT23
标准包装: 1
二极管类型: 标准
电压 - (Vr)(最大): 75V
电流 - 平均整流 (Io): 215mA(DC)
电压 - 在 If 时为正向 (Vf)(最大): 1.25V @ 150mA
速度: 标准恢复 >500ns,> 200mA(Io)
反向恢复时间(trr): 3µs
电流 - 在 Vr 时反向漏电: 5nA @ 75V
电容@ Vr, F: 2pF @ 0V,1MHz
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: TO-236-3,SC-59,SOT-23-3
供应商设备封装: TO-236AB
包装: 标准包装
其它名称: 568-5994-6
2003 Dec 12 5
NXP Semiconductors
Product data sheet
Low-leakage diode BAS116
102
150 200
Tj
(
°C)
50
0
mlb754
100
10
1
10?1
10?2
10?3
IR
(nA)
(1)
(2)
(1) Maximum values.
(2) Typical values.
VR
= 75 V.
Fig.5 Reverse current as a function of junction
temperature.
Fig.6 Diode capacitance as a function of reverse
voltage; typical values.
f = 1 MHz; Tj
= 25
°C.
2handbook, halfpage
0
010205
15
VR
(V)
1
MBG526
Cd
(pF)
handbook, full pagewidth
trr
(1)
IF
t
output signal
tr
t
tp
10%
90%
VR
input signal
V = V I x RRF S
R = 50S
?
IF
D.U.T.
R = 50i
?
SAMPLING
OSCILLOSCOPE
MGA881
Fig.7 Reverse recovery time test circuit and waveforms.
(1) IR
= 1 mA.
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