参数资料
型号: CAN-OBD-RD
厂商: Silicon Laboratories Inc
文件页数: 88/312页
文件大小: 0K
描述: KIT REF DESIGN CAN DIAGNOSTIC
标准包装: 1
主要目的: 接口,CAN OBD 读取器
嵌入式: 是,MCU,8 位
已用 IC / 零件: C8051F502
主要属性: CAN 板载诊断(OBD-II)参考设计
次要属性: 支持模式 1、2 和 3,500kbps
已供物品: 板,ToolStick 适配器,线缆,CD,文档
产品目录页面: 626 (CN2011-ZH PDF)
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其它名称: 336-1559
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C8051F50x/F51x
178
Rev. 1.2
20.1. Port I/O Modes of Operation
Port pins P0.0–P4.7 use the Port I/O cell shown in Figure 20.2. Each Port I/O cell can be configured by
software for analog I/O or digital I/O using the PnMDIN registers. On reset, all Port I/O cells default to a
high impedance state with weak pull-ups enabled until the Crossbar is enabled (XBARE = 1).
20.1.1. Port Pins Configured for Analog I/O
Any pins to be used as Comparator or ADC inputs, external oscillator inputs, or VREF should be config-
ured for analog I/O (PnMDIN.n = 0). When a pin is configured for analog I/O, its weak pullup, digital driver,
and digital receiver are disabled. Port pins configured for analog I/O will always read back a value of 0.
Configuring pins as analog I/O saves power and isolates the Port pin from digital interference. Port pins
configured as digital inputs may still be used by analog peripherals; however, this practice is not recom-
mended and may result in measurement errors.
20.1.2. Port Pins Configured For Digital I/O
Any pins to be used by digital peripherals (UART, SPI, SMBus, etc.), external digital event capture func-
tions, or as GPIO should be configured as digital I/O (PnMDIN.n = 1). For digital I/O pins, one of two output
modes (push-pull or open-drain) must be selected using the PnMDOUT registers.
Push-pull outputs (PnMDOUT.n = 1) drive the Port pad to the VIO or GND supply rails based on the output
logic value of the Port pin. Open-drain outputs have the high side driver disabled; therefore, they only drive
the Port pad to GND when the output logic value is 0 and become high impedance inputs (both high low
drivers turned off) when the output logic value is 1.
When a digital I/O cell is placed in the high impedance state, a weak pull-up transistor pulls the Port pad to
the VIO supply voltage to ensure the digital input is at a defined logic state. Weak pull-ups are disabled
when the I/O cell is driven to GND to minimize power consumption and may be globally disabled by setting
WEAKPUD to 1. The user should ensure that digital I/O are always internally or externally pulled or driven
to a valid logic state to minimize power consumption. Port pins configured for digital I/O always read back
the logic state of the Port pad, regardless of the output logic value of the Port pin.
Figure 20.2. Port I/O Cell Block Diagram
GND
VIO
(WEAK)
PORT
PAD
To/From Analog
Peripheral
PxMDIN.x
(1 for digital)
(0 for analog)
Px.x – Output
Logic Value
(Port Latch or
Crossbar)
XBARE
(Crossbar
Enable)
Px.x – Input Logic Value
(Reads 0 when pin is configured as an analog I/O)
PxMDOUT.x
(1 for push-pull)
(0 for open-drain)
WEAKPUD
(Weak Pull-Up Disable)
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