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参数资料
| 型号： | CY7C09449PV |
| 英文描述： | Memory |
| 中文描述： | 内存 |
| 文件页数： | 18/20页 |
| 文件大小： | 301K |
| 代理商： | CY7C09449PV |
CY7C138AV/144AV/006AV
CY7C139AV/145AV/016AV
CY7C007AV/017AV
Document #: 38-06051 Rev. *A
Page 7 of 20
Switching Characteristics Over the Operating Range[15]
Parameter
Description
CY7C138AV/144AV/006AV
CY7C139AV/145AV/016AV
CY7C007AV/017AV
Unit
-20
-25
Min.
Max.
Min.
Max.
READ CYCLE
tRC
Read Cycle Time
20
25
ns
tAA
Address to Data Valid
20
25
ns
tOHA
Output Hold From Address Change
3
ns
tACE
[16]
CE LOW to Data Valid
20
25
ns
tDOE
OE LOW to Data Valid
12
13
ns
tLZOE
[17, 18, 19]
OE Low to Low Z
3
ns
tHZOE
[17, 18, 19]
OE HIGH to High Z
12
15
ns
tLZCE
[17, 18, 19]
CE LOW to Low Z
3
ns
tHZCE
[17, 18, 19]
CE HIGH to High Z
12
15
ns
tPU
[19]
CE LOW to Power-Up
0
ns
tPD
[19]
CE HIGH to Power-Down
20
25
ns
WRITE CYCLE
tWC
Write Cycle Time
20
25
ns
tSCE
[16]
CE LOW to Write End
16
20
ns
tAW
Address Valid to Write End
16
20
ns
tHA
Address Hold From Write End
0
ns
tSA
[16]
Address Set-Up to Write Start
0
ns
tPWE
Write Pulse Width
16
20
ns
tSD
Data Set-Up to Write End
12
15
ns
tHD
Data Hold From Write End
0
ns
tHZWE
[18, 19]
R/W LOW to High Z
12
15
ns
tLZWE
[18, 19]
R/W HIGH to Low Z
3
ns
tWDD
[20]
Write Pulse to Data Delay
40
50
ns
tDDD
[20]
Write Data Valid to Read Data Valid
30
35
ns
BUSY TIMING[21]
tBLA
BUSY LOW from Address Match
20
ns
tBHA
BUSY HIGH from Address Mismatch
20
ns
tBLC
BUSY LOW from CE LOW
20
ns
tBHC
BUSY HIGH from CE HIGH
16
17
ns
tPS
Port Set-Up for Priority
5
ns
Note:
15. Test conditions assume signal transition time of 3 ns or less, timing reference levels of 1.5V, input pulse levels of 0 to 3.0V, and output loading of the specified
IOI/IOH and 30-pF load capacitance.
16. To access RAM, CE=L, SEM=H. To access semaphore, CE=H and SEM=L. Either condition must be valid for the entire tSCE time.
17. At any given temperature and voltage condition for any given device, tHZCE is less than tLZCE and tHZOE is less than tLZOE.
18. Test conditions used are Load 3.
19. This parameter is guaranteed but not tested. For information on port-to-port delay through RAM cells from writing port to reading port, refer to Read Timing
with Busy waveform.
20. For information on port-to-port delay through RAM cells from writing port to reading port, refer to Read Timing with Busy waveform.
21. Test conditions used are Load 2.
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| CY7C09569V | Memory |
| CY7C09569V-100AC | SYNC SRAM|16KX36|CMOS|QFP|144PIN|PLASTIC |
| CY7C1413BV18-250BZXI | 2M X 18 QDR SRAM, 0.45 ns, PBGA165 |
| CY7C145-35JCR | 8K X 9 DUAL-PORT SRAM, 35 ns, PQCC68 |
| CY7C1472BV25-250BZXI | 4M X 18 ZBT SRAM, 3 ns, PBGA165 |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| CY7C09449PVA-AC | 功能描述:IC SRAM 128KBIT 50MHZ 160LQFP RoHS:否 类别:集成电路 (IC) >> 存储器 系列:- 产品变化通告:Product Discontinuation 05/Nov/2008 标准包装:84 系列:- 格式 - 存储器:RAM 存储器类型:SRAM - 同步 ZBT 存储容量:4.5M（128K x 36） 速度:75ns 接口:并联 电源电压:3.135 V ~ 3.465 V 工作温度:-40°C ~ 85°C 封装/外壳:119-BGA 供应商设备封装:119-PBGA（14x22） 包装:托盘 其它名称:71V3557SA75BGI |
| CY7C09449PV-AC | 功能描述:IC SRAM 128KBIT 50MHZ 160LQFP RoHS:否 类别:集成电路 (IC) >> 存储器 系列:- 标准包装:96 系列:- 格式 - 存储器:闪存 存储器类型:FLASH 存储容量:16M（2M x 8，1M x 16） 速度:70ns 接口:并联 电源电压:2.65 V ~ 3.6 V 工作温度:-40°C ~ 85°C 封装/外壳:48-TFSOP（0.724"，18.40mm 宽） 供应商设备封装:48-TSOP 包装:托盘 |
| CY7C09569V-100AC | 功能描述:IC SRAM 576KBIT 100MHZ 144LQFP RoHS:否 类别:集成电路 (IC) >> 存储器 系列:- 标准包装:2,500 系列:- 格式 - 存储器:EEPROMs - 串行 存储器类型:EEPROM 存储容量:1K (128 x 8) 速度:100kHz 接口:UNI/O?（单线） 电源电压:1.8 V ~ 5.5 V 工作温度:-40°C ~ 85°C 封装/外壳:8-TSSOP，8-MSOP（0.118"，3.00mm 宽） 供应商设备封装:8-MSOP 包装:带卷 (TR) |
| CY7C09569V-100AXC | 功能描述:静态随机存取存储器 512K (16Kx36) 3.3v 100MHz Synch 静态随机存取存储器 RoHS:否 制造商:Cypress Semiconductor 存储容量:16 Mbit 组织:1 M x 16 访问时间:55 ns 电源电压-最大:3.6 V 电源电压-最小:2.2 V 最大工作电流:22 uA 最大工作温度:+ 85 C 最小工作温度:- 40 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:TSOP-48 封装:Tray |
| CY7C09569V-100BBC | 功能描述:静态随机存取存储器 512K (16Kx36) 3.3v 100MHz Synch 静态随机存取存储器 RoHS:否 制造商:Cypress Semiconductor 存储容量:16 Mbit 组织:1 M x 16 访问时间:55 ns 电源电压-最大:3.6 V 电源电压-最小:2.2 V 最大工作电流:22 uA 最大工作温度:+ 85 C 最小工作温度:- 40 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:TSOP-48 封装:Tray |
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