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参数资料
| 型号： | DAC1008D750HN |
| 厂商： | NXP SEMICONDUCTORS |
| 元件分类： | DAC |
| 英文描述： | Dual 10-bit DAC; up to 750 Msps; 2×, 4× or 8× interpolating |
| 中文描述： | 10-BIT DAC, PQCC64 |
| 封装： | 9 X 9 MM, 0.85 MM HEIGHT, PLASTIC, SOT804-3, HVQFN-64 |
| 文件页数： | 6/99页 |
| 文件大小： | 547K |
| 代理商： | DAC1008D750HN |
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DAC1008D750
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NXP B.V. 2011. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 2 — 5 January 2011
6 of 99
NXP Semiconductors
DAC1008D750
2
×
, 4
×
or 8
×
interpolating DAC with JESD204A
[1]
P: power supply; G: ground; I: input; O: output.
[2]
H = heatsink (exposed die pad to be soldered to GND. A minimum of 81 thermal vias are required).
7.
Limiting values
Table 3.
In accordance with the Absolute Maximum Rating System (IEC 60134).
Symbol
Parameter
V
DDA(3V3)
analog supply voltage (3.3 V)
V
DDA(1V8)
analog supply voltage (1.8 V)
V
DDD
digital supply voltage
T
stg
storage temperature
T
amb
ambient temperature
T
j
junction temperature
8. Thermal characteristics
Table 4.
Symbol
R
th(j-a)
R
th(j-c)
[1]
Complies with JEDEC test board, in free air.
VIN_N0
VIN_P0
V
DDD(1V8)
VIN_P1
VIN_N1
VIN_N2
VIN_P2
V
DDD(1V8)
VIN_P3
VIN_N3
n.c.
n.c.
JTAG
GND
52
53
54
55
56
57
58
59
60
61
62
63
64
H
[2]
I
I
P
I
I
I
I
P
I
I
-
-
I
G
serial interface lane 0 negative input
serial interface lane 0 positive input
digital supply voltage 1.8 V
serial interface lane 1 positive input
serial interface lane 1 negative input
serial interface lane 2 negative input
serial interface lane 2 positive input
digital supply voltage 1.8 V
serial interface lane 3 positive input
serial interface lane 3 negative input
not connected
not connected
JTAG test mode select (must be grounded)
ground
Table 2.
Symbol
Pin description
…continued
Pin
Type
[1]
Description
Limiting values
Conditions
Min
0.5
0.5
0.5
55
40
40
Max
+4.6
+2.5
+2.5
+150
+85
+125
Unit
V
V
V
°
C
°
C
°
C
Thermal characteristics
Parameter
thermal resistance from junction to ambient
thermal resistance from junction to case
Conditions
Typ
Unit
K/W
K/W
[1]
18.7
[1]
6.7
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