参数资料
型号: DS2016R-100+
厂商: Maxim Integrated
文件页数: 3/8页
文件大小: 0K
描述: IC SRAM 16KBIT 100NS 24SOIC
标准包装: 31
格式 - 存储器: RAM
存储器类型: SRAM
存储容量: 16K (2K x 8)
速度: 100ns
接口: 并联
电源电压: 2.7 V ~ 5.5 V
工作温度: -40°C ~ 85°C
封装/外壳: 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽)
供应商设备封装: 24-SOIC W
包装: 管件
DS2016
AC CHARACTERISTICS READ CYCLE
(T A = -40°C to +85°C; V CC = 5V ±10%)
PARAMETER
Read Cycle Time
Access Time
OE to Output Valid
CE to Output Valid
CE or OE to Output
SYMBOL
t RC
t ACC
t OE
t CO
t COE
DS2016-100
MIN TYP MAX
100
100
50
100
5
UNITS
ns
ns
ns
ns
ns
NOTES
Active
Output High-Z from
Deselection
Output Hold from
Address Change
t OD
t OH
5
5
35
ns
ns
AC CHARACTERISTICS WRITE CYCLE
(T A = -40°C to +85°C    ; V CC = 5V ±10%)
PARAMETER
Write Cycle Time
Write Pulse Width
Address Setup Time
Write Recovery
Time
Output High-Z from
WE
Output Active from
WE
Data Setup Time
Data Hold Time
SYMBOL
t WC
t WP
t AW
t WR
t ODW
t OEW
t DS
t DH
DS2016-100
MIN TYP MAX
100
75
0
10
35
5
40
0
UNITS
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
NOTES
DATA RETENTION CHARACTERISTICS
(T A = -40°C to +85°C)
PARAMETER SYMBOL
CONDITIONS
MIN TYP
MAX
UNITS
Data Retention Supply
Voltage
Data Retention
Current at 5.5V
Data Retention
Current at 2.0V
V DR
I CCR1
I CCR2
CE
CE
CE
3 V CC - 0.5V
3 V CC - 0.5V
3 V CC - 0.5V
2.0
0.1*
50*
5.5
1
750
V
μA
nA
Chip Deselect to Data
Retention
t CDR
0
μs
Recovery Time t R
* Typical values are at +25°C
3 of 8
2
ms
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