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参数资料
| 型号： | DS21354LN |
| 厂商： | Maxim Integrated Products |
| 文件页数： | 115/124页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC TXRX E1 1-CHIP 3.3V 100-LQFP |
| 产品培训模块： | Lead (SnPb) Finish for COTS |
| 产品变化通告： | Product Discontinuation 20/Feb/2012 |
| 标准包装： | 90 |
| 功能： | 单芯片收发器 |
| 接口： | E1，HDLC |
| 电路数： | 1 |
| 电源电压： | 3.14 V ~ 3.47 V |
| 电流 - 电源： | 75mA |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 100-LQFP |
| 供应商设备封装： | 100-LQFP（14x14） |
| 包装： | 托盘 |
| 包括： | 远程和 AIS 警报检测器 / 发生器 |
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DS21354/DS21554 3.3V/5V E1 Single-Chip Transceivers
90 of 124
16.
JTAG BOUNDARY SCAN ARCHITECTURE AND TEST ACCESS PORT
The
DS21354/DS21554
IEEE
1149.1
design
supports
the
standard
instruction
codes
SAMPLE/PRELOAD, BYPASS, and EXTEST. Optional public instructions included are HIGHZ,
CLAMP, and IDCODE. See Figure 16-1. The device contains the following as required by IEEE 1149.1
Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture.
Test Access Port (TAP)
TAP Controller
Instruction Register
Bypass Register
Boundary Scan Register
Device Identification Register
The DS21354/DS21554 are enhanced versions of the DS2152 and are backward pin compatible. The
JTAG feature uses pins that had no function in the DS2152. When using the JTAG feature, be sure FMS
(pin 76) is tied low, enabling the newly defined pins of the DS21354/DS21554. Details on Boundary
Scan Architecture and the Test Access Port can be found in IEEE 1149.1-1990, IEEE 1149.1a-1993, and
IEEE 1149.1b-1994.
The Test Access Port has the necessary interface pins: JTRST, JTCLK, JTMS, JTDI, and JTDO. See the
pin descriptions in Section 3 for details.
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| MC56F8256VLF | DSC 64K FLASH 60MHZ 48-LQFP |
| VI-25B-IY-B1 | CONVERTER MOD DC/DC 95V 50W |
| S9S08DZ32F1MLF | MCU 32K FLASH MASK AUTO 48-LQFP |
| S9S08DZ60F1CLC | MCU 60K FLASH AUTO 32-LQFP |
| DS21552GN | IC TXRX T1 1-CHIP 5V 100-BGA |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| DS21354LN+ | 功能描述:网络控制器与处理器 IC 3.3/5V E1 Single Chip Transceiver RoHS:否 制造商:Micrel 产品:Controller Area Network (CAN) 收发器数量: 数据速率: 电源电流（最大值）:595 mA 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:PBGA-400 封装:Tray |
| DS21372 | 制造商:DALLAS 制造商全称:Dallas Semiconductor 功能描述:3.3V Bit Error Rate Tester BERT |
| DS21372T | 功能描述:网络控制器与处理器 IC 3.3V Bit Error Rate Tester (BERT) RoHS:否 制造商:Micrel 产品:Controller Area Network (CAN) 收发器数量: 数据速率: 电源电流（最大值）:595 mA 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:PBGA-400 封装:Tray |
| DS21372T+ | 功能描述:网络控制器与处理器 IC 3.3V Bit Error Rate Tester (BERT) RoHS:否 制造商:Micrel 产品:Controller Area Network (CAN) 收发器数量: 数据速率: 电源电流（最大值）:595 mA 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:PBGA-400 封装:Tray |
| DS21372TN | 功能描述:网络控制器与处理器 IC 3.3V Bit Error Rate Tester (BERT) RoHS:否 制造商:Micrel 产品:Controller Area Network (CAN) 收发器数量: 数据速率: 电源电流（最大值）:595 mA 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:PBGA-400 封装:Tray |
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