参数资料
型号: DS2174Q+T&R
厂商: Maxim Integrated Products
文件页数: 15/24页
文件大小: 0K
描述: IC BERT ENHANCED 44-PLCC
产品培训模块: Lead (SnPb) Finish for COTS
Obsolescence Mitigation Program
标准包装: 500
功能: 增强型位误码率测试器(EBERT)
接口: E1,J1,T1
电路数: 1
电源电压: 3 V ~ 3.6 V
电流 - 电源: 50mA
工作温度: 0°C ~ 70°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 44-LCC(J 形引线)
供应商设备封装: 44-PLCC(16.59x16.59)
包装: 带卷 (TR)
包括: 错误计数器,样式发生器和检测器
DS2174
22 of 24
6.2 Data Interface
Figure 6-3. Transmit Interface Timing
Table 6-C. TRANSMIT DATA TIMING
(VDD = 3.0V to 3.6V, TA = 0°C to +70°C for DS2174Q; VDD = 3.0V to 3.6V, TA = -40°C to +85°C
for DS2174QN)
PARAMETER
SYMBOL
MIN
TYP
MAX
UNITS NOTES
TCLK Clock Period (Nibble/Byte Mode)
tCYC
12.5
ns
TCLK High Time (Nibble/Byte Mode)
tPWH
5.0
tCYC
ns
TCLK Low Time (Nibble/Byte Mode)
tPWL
5.0
tCYC
ns
TCLK Clock Period (Bit Mode)
tCYC
6.45
ns
3
TCLK High Time (Bit Mode)
tPWH
2.0
tCYC
ns
3
TCLK Low Time (Bit Mode)
tPWL
2.0
tCYC
ns
3
TCLK_EN Setup Time Before TCLK
tSU
2.5
ns
TCLK_EN Hold Time After TCLK
tH
2.5
ns
TCLKO Output Delay After TCLK
tOD
6.0
ns
1
TCLKO High Time (Nibble/Byte Mode)
tPWH(1)
5.0
ns
1
TCLKO High Time (Bit Mode)
tPWH(1)
2.0
ns
1, 3
TDAT Output Delay After TCLKO
tOD(1)
5.0
ns
1, 2
NOTES:
1) 20pF load.
2) TDAT follows falling edge of TCLKO if CR4.5 = 0, rising edge if CR4.5 = 1.
3) Guaranteed by design.
TCLK
TDAT
TCLKO
TCLK_EN
t
CYC
t
PWH
t
PWL
t
H
t
SU
t
PWH(1)
t
OD
t
OD(1)
GAPPED CLOCK
DATA OUT
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