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参数资料
| 型号： | DS2174Q+T&R |
| 厂商： | Maxim Integrated Products |
| 文件页数： | 2/24页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC BERT ENHANCED 44-PLCC |
| 产品培训模块： | Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program |
| 标准包装： | 500 |
| 功能： | 增强型位误码率测试器（EBERT） |
| 接口： | E1，J1，T1 |
| 电路数： | 1 |
| 电源电压： | 3 V ~ 3.6 V |
| 电流 - 电源： | 50mA |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 44-LCC（J 形引线） |
| 供应商设备封装： | 44-PLCC（16.59x16.59） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
| 包括： | 错误计数器，样式发生器和检测器 |
DS2174
10 of 24
2. PARALLEL CONTROL INTERFACE
Access to the registers is provided through a nonmultiplexed parallel port. The data bus is 8 bits wide; the
address bus is 4 bits wide. Control registers are accessed directly; memory for long repetitive patterns is
accessed indirectly. RCLK and TCLK are used to update counters and for all rising edge bits in the
register map (RSYNC, LC, TL, SBE). At slow clock rates, sufficient time must be allowed for these port
operations.
Table 2-A. Register Map
ADDRESS
R/W
REGISTER NAME
00
R/W
Control Register 1
01
R/W
Control Register 2
02
R/W
Control Register 3
03
R/W
Control Register 4
04
R
Status Register
05
R/W
Tap/Seed Register 0
06
R/W
Tap/Seed Register 1
07
R/W
Tap/Seed Register 2
08
R/W
Tap/Seed Register 3
09
R/W
TEST Register
0A
R
Count Register 0
0B
R
Count Register 1
0C
R
Count Register 2
0D
R
Count Register 3
0E
R
Count Register 4
0F
R
Count Register 5
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