参数资料
| 型号： | DS2174QN+ |
| 厂商： | Maxim Integrated Products |
| 文件页数： | 14/24页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC BERT ENHANCED 44-PLCC |
| 产品培训模块： | Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program |
| 标准包装： | 26 |
| 功能： | 增强型位误码率测试器（EBERT） |
| 接口： | E1，J1，T1 |
| 电路数： | 1 |
| 电源电压： | 3 V ~ 3.6 V |
| 电流 - 电源： | 50mA |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 44-LCC（J 形引线） |
| 供应商设备封装： | 44-PLCC（16.59x16.59） |
| 包装： | 管件 |
| 包括： | 错误计数器，样式发生器和检测器 |
DS2174
21 of 24
Figure 6-2. Write Timing
Table 6-B. PARALLEL PORT WRITE TIMING
(VDD = 3.0V to 3.6V, TA = 0°C to +70°C for DS2174Q; VDD = 3.0V to 3.6V, TA = -40°C to +85°C
for DS2174QN)
PARAMETER
SYMBOL
MIN
TYP
MAX
UNITS NOTES
CS Setup Time Before WR
tSU(1)
5.0
ns
A(3:0) Setup Time Before WR
tSU(2)
10.0
ns
A(3:0) Hold Time After WR
tH(1)
10.0
ns
WR Pulse Width
tPW
38
ns
DATA Setup Time Before WR
tSU(3)
10.0
ns
DATA Hold Time After WR
tH(2)
5.0
ns
CS Hold Time After WR
tH(3)
5.0
ns
VALID DATA
t
SU(3)
A[3:0]
CS
WR
D[7:0]
DATA IN
t
SU(1)
t
SU(2)
t
PW
t
H(1)
t
H(3)
t
H(2)
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
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| DS2174QN/T&R | 功能描述:电信集成电路 RoHS:否 制造商:STMicroelectronics 类型:Telecom IC - Various 工作电源电压:4.75 V to 5.25 V 电源电流: 工作温度范围:- 40 C to + 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:PQFP-100 封装:Tray |
| DS2174QN+ | 功能描述:电信集成电路 Enhanced Bit Error Rate Tester (BERT) RoHS:否 制造商:STMicroelectronics 类型:Telecom IC - Various 工作电源电压:4.75 V to 5.25 V 电源电流: 工作温度范围:- 40 C to + 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:PQFP-100 封装:Tray |
| DS2174QN+T&R | 制造商:Maxim Integrated Products 功能描述:BIT ERROR RATE TESTER 44PLCC - Tape and Reel 制造商:Maxim Integrated Products 功能描述:IC BERT ENHANCED 44-PLCC 制造商:Maxim Integrated Products 功能描述:Telecom ICs Enhanced Bit Error Rate Tester (BERT) |
| DS2174QN+T&R | 功能描述:电信集成电路 Enhanced Bit Error Rate Tester (BERT) RoHS:否 制造商:STMicroelectronics 类型:Telecom IC - Various 工作电源电压:4.75 V to 5.25 V 电源电流: 工作温度范围:- 40 C to + 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:PQFP-100 封装:Tray |
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