参数资料
| 型号： | DS2174QN+ |
| 厂商： | Maxim Integrated Products |
| 文件页数： | 22/24页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC BERT ENHANCED 44-PLCC |
| 产品培训模块： | Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program |
| 标准包装： | 26 |
| 功能： | 增强型位误码率测试器（EBERT） |
| 接口： | E1，J1，T1 |
| 电路数： | 1 |
| 电源电压： | 3 V ~ 3.6 V |
| 电流 - 电源： | 50mA |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 44-LCC（J 形引线） |
| 供应商设备封装： | 44-PLCC（16.59x16.59） |
| 包装： | 管件 |
| 包括： | 错误计数器，样式发生器和检测器 |
DS2174
7 of 24
Table 1-A. Pin Assignment
PIN
SYMBOL
I/O
FUNCTION
1, 23
VDD
—
Supply
2
RCLK
I
Receive Clock
3
RCLK_EN
I
Receive Clock Enable
4
RDAT0
I
Receive Serial Data or LSB of Receive Nibble or Byte Data
5
RDAT1
I
Receive Data Nibble or Byte
6
RDAT2
I
Receive Data Nibble or Byte
7
RDAT3
I
Receive Data Nibble or Byte
8
RDAT4
I
Receive Data Byte
9
RDAT5
I
Receive Data Byte
10
RDAT6
I
Receive Data Byte
11
RDAT7
I
Receive Data Byte
12, 22, 29,
34
GND
—
Ground
13
A0
I
Address 0
14
A1
I
Address 1
15
A2
I
Address 2
16
A3
I
Address 3
17
CS
I
Chip Select
18
RD
I
Read
19
WR
I
Write
20, 21
TEST
I
Test Input
24
TCLK
I
Transmit Clock Input
25
TCLK_EN
I
Transmit Clock Enable
26
TCLKO
O
Transmit Clock Output. This is active only when data is being transmitted.
This clock has gapped periods corresponding to the times when the
transmit enable signal is low.
27
TDAT0
O
Transmit Serial Data or LSB of Transmit Nibble or Byte Data
28
TDAT1
O
Transmit Data Nibble or Byte
30
TDAT2
O
Transmit Data Nibble or Byte
31
TDAT3
O
Transmit Data Nibble or Byte
32
TDAT4
O
Transmit Data Byte
33
TDAT5
O
Transmit Data Byte
35
TDAT6
O
Transmit Data Byte
36
TDAT7
O
Transmit Data Byte
37
D0
I/O
Data I/O
38
D1
I/O
Data I/O
39
D2
I/O
Data I/O
40
D3
I/O
Data I/O
41
D4
I/O
Data I/O
42
D5
I/O
Data I/O
43
D6
I/O
Data I/O
44
D7
I/O
Data I/O
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PDF描述 |
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