参数资料
| 型号： | EPF8452ALC84-3 |
| 厂商： | Altera |
| 文件页数： | 20/62页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FLEX 8000A FPGA 4K 84-PLCC |
| 产品培训模块： | Three Reasons to Use FPGA's in Industrial Designs |
| 标准包装： | 75 |
| 系列： | FLEX 8000 |
| LAB/CLB数： | 42 |
| 逻辑元件/单元数： | 336 |
| 输入/输出数： | 68 |
| 门数： | 4000 |
| 电源电压： | 4.75 V ~ 5.25 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 工作温度： | 0°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 84-LCC（J 形引线） |
| 供应商设备封装： | 84-PLCC（29.31x29.31） |
| 其它名称： | 544-2256-5 |
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Altera Corporation
27
FLEX 8000 Programmable Logic Device Family Data Sheet
FL
EX
800
0
3
Figure 15. FLEX 8000 AC Test Conditions
Operating
Conditions
recommended operating conditions, operating conditions, and
capacitance for 5.0-V FLEX 8000 devices.
VCC
To Test
System
C1 (includes
JIG capacitance)
Device input
rise and fall
times < 3 ns
464
(703
)
Device
Output
250
(8.06 K
)
Power supply transients can affect AC
measurements. Simultaneous transitions
of multiple outputs should be avoided for
accurate measurement. Threshold tests
must not be performed under AC
conditions. Large-amplitude, fast-ground-
current transients normally occur as the
device outputs discharge the load
capacitances. When these transients flow
through the parasitic inductance between
the device ground pin and the test system
ground, significant reductions in
observable noise immunity can result.
Numbers in parentheses are for 3.3-V
devices or outputs. Numbers without
parentheses are for 5.0-V devices or
outputs.
Table 9. FLEX 8000 5.0-V Device Absolute Maximum Ratings
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Max
Unit
VCC
Supply voltage
With respect to ground (2)
–2.0
7.0
V
VI
DC input voltage
–2.0
7.0
V
I OUT
DC output current, per pin
–25
25
mA
T STG
Storage temperature
No bias
–65
150
° C
T AMB
Ambient temperature
Under bias
–65
135
° C
T J
Junction temperature
Ceramic packages, under bias
150
° C
PQFP and RQFP, under bias
135
° C
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
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参数描述 |
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| EPF8452ALC84-6 | 制造商:Altera Corporation 功能描述:Field-Programmable Gate Array, 336 Cell, 84 Pin, Plastic, PLCC |
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