参数资料
型号: FQI4N80TU
厂商: Fairchild Semiconductor
文件页数: 3/9页
文件大小: 0K
描述: MOSFET N-CH 800V 3.9A I2PAK
产品培训模块: High Voltage Switches for Power Processing
标准包装: 50
系列: QFET™
FET 型: MOSFET N 通道,金属氧化物
FET 特点: 标准
漏极至源极电压(Vdss): 800V
电流 - 连续漏极(Id) @ 25° C: 3.9A
开态Rds(最大)@ Id, Vgs @ 25° C: 3.6 欧姆 @ 1.95A,10V
Id 时的 Vgs(th)(最大): 5V @ 250µA
闸电荷(Qg) @ Vgs: 25nC @ 10V
输入电容 (Ciss) @ Vds: 880pF @ 25V
功率 - 最大: 3.13W
安装类型: 通孔
封装/外壳: TO-262-3,长引线,I²Pak,TO-262AA
供应商设备封装: I2PAK
包装: 管件
  !                    
10
10
1
Top :
V GS
15.0 V
10.0 V
1
8.0 V
7.0 V
6.5 V
10
150 C
0
6.0 V
Bottom : 5.5 V
o
10
25 C
10
-55 C
-1
※ Notes :
1. 250 μ s Pulse Test
2. T C = 25 ℃
0
o
o
※ Notes :
1. V DS = 50V
2. 250 μ s Pulse Test
10
10
10
10
10
-2
-1
0
1
-1
2
4
6
8
10
10
7
6
V DS , Drain-Source Voltage [V]
Figure 1. On-Region Characteristics
V GS = 10V
1
V GS , Gate-Source Voltage [V]
Figure 2. Transfer Characteristics
10
5
4
V GS = 20V
0
3
※ Note : T J = 25 ℃
150 ℃
25 ℃
※ Notes :
1. V GS = 0V
2. 250 μ s Pulse Test
10
2
0
2
4
6
8
10
-1
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
I D , Drain Current [A]
Figure 3. On-Resistance Variation vs.
Drain Current and Gate Voltage
V SD , Source-Drain voltage [V]
Figure 4. Body Diode Forward Voltage
Variation vs. Source Current
and Temperature
1200
1000
800
C iss
C iss = C gs + C gd (C ds = shorted)
C oss = C ds + C gd
C rss = C gd
12
10
8
V DS = 160V
V DS = 400V
V DS = 640V
600
400
200
C oss
C rss
※ Notes :
1. V GS = 0 V
2. f = 1 MHz
6
4
2
※ Note : I D = 3.9A
10
10
10
0
-1
0
1
0
0
4
8
12
16
20
V DS , Drain-Source Voltage [V]
Figure 5. Capacitance Characteristics
Q G , Total Gate Charge [nC]
Figure 6. Gate Charge Characteristics
?2007 Fairchild Semiconductor Corporation
FQB4N80 / FQI4N80 Rev. C1
3
www.fairchildsemi.com
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