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参数资料
| 型号： | HUF75631S3S |
| 厂商： | Fairchild Semiconductor |
| 文件页数： | 2/10页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | MOSFET N-CH 100V 33A D2PAK |
| 标准包装： | 400 |
| 系列： | UltraFET™ |
| FET 型： | MOSFET N 通道，金属氧化物 |
| FET 特点： | 标准 |
| 漏极至源极电压(Vdss)： | 100V |
| 电流 - 连续漏极(Id) @ 25° C： | 33A |
| 开态Rds（最大）@ Id, Vgs @ 25° C： | 40 毫欧 @ 33A，10V |
| Id 时的 Vgs(th)（最大）： | 4V @ 250µA |
| 闸电荷(Qg) @ Vgs： | 79nC @ 20V |
| 输入电容 (Ciss) @ Vds： | 1220pF @ 25V |
| 功率 - 最大： | 120W |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | TO-263-3，D²Pak（2 引线+接片），TO-263AB |
| 供应商设备封装： | D²PAK |
| 包装： | 管件 |
HUF75631S3S
Electrical Specifications
T C = 25 o C, Unless Otherwise Specified
PARAMETER
SYMBOL
TEST CONDITIONS
MIN
TYP
MAX
UNITS
OFF STATE SPECIFICATIONS
Drain to Source Breakdown Voltage
Zero Gate Voltage Drain Current
Gate to Source Leakage Current
BV DSS
I DSS
I GSS
I D = 250 μ A, V GS = 0V (Figure 11)
V DS = 95V, V GS = 0V
V DS = 90V, V GS = 0V, T C = 150 o C
V GS = ± 20V
100
-
-
-
-
-
-
-
-
1
250
± 100
V
μ A
μ A
nA
ON STATE SPECIFICATIONS
Gate to Source Threshold Voltage
Drain to Source On Resistance
V GS(TH)
r DS(ON)
V GS = V DS , I D = 250 μ A (Figure 10)
I D = 33A, V GS = 10V (Figure 9)
2
-
-
0.033
4
0.040
V
?
THERMAL SPECIFICATIONS
Thermal Resistance Junction to Case
Thermal Resistance Junction to
R θ JC
R θ JA
TO-263
-
-
-
-
1.25
62
o C/W
o C/W
Ambient
SWITCHING SPECIFICATIONS (V GS = 10V)
Turn-On Time
Turn-On Delay Time
Rise Time
Turn-Off Delay Time
Fall Time
Turn-Off Time
t ON
t d(ON)
t r
t d(OFF)
t f
t OFF
V DD = 50V, I D = 33A
V GS = 10V,
R GS = 9.1 ?
(Figures 18, 19)
-
-
-
-
-
-
-
9.5
57
40
55
-
100
-
-
-
-
145
ns
ns
ns
ns
ns
ns
GATE CHARGE SPECIFICATIONS
Total Gate Charge
Gate Charge at 10V
Threshold Gate Charge
Gate to Source Gate Charge
Gate to Drain “Miller” Charge
Q g(TOT)
Q g(10)
Q g(TH)
Q gs
Q gd
V GS = 0V to 20V
V GS = 0V to 10V
V GS = 0V to 2V
V DD = 50V,
I D = 33A,
I g(REF) = 1.0mA
(Figures 13, 16, 17)
-
-
-
-
-
66
35
2.4
5.4
13
79
42
2.9
-
-
nC
nC
nC
nC
nC
CAPACITANCE SPECIFICATIONS
Input Capacitance
C ISS
V DS = 25V, V GS = 0V,
-
1220
-
pF
f = 1MHz
Output Capacitance
Reverse Transfer Capacitance
C OSS
C RSS
(Figure 12)
-
-
295
100
-
-
pF
pF
Source to Drain Diode Specifications
PARAMETER
Source to Drain Diode Voltage
Reverse Recovery Time
Reverse Recovered Charge
SYMBOL
V SD
t rr
Q RR
TEST CONDITIONS
I SD = 33A
I SD = 17A
I SD = 33A, dI SD /dt = 100A/ μ s
I SD = 33A, dI SD /dt = 100A/ μ s
MIN
-
-
-
-
TYP
-
-
-
-
MAX
1.25
1.00
112
400
UNITS
V
V
ns
nC
?2001 Fairchild Semiconductor Corporation
HUF75631S3S Rev. C0
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