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参数资料
| 型号： | ICS85104AGILFT |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 15/17页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC CLOCK BUFFER MUX 2:4 20-TSSOP |
| 产品培训模块： | PCI-Express |
| 标准包装： | 2,500 |
| 系列： | HiPerClockS™ |
| 类型： | 扇出缓冲器（分配），多路复用器 |
| 电路数： | 1 |
| 比率 - 输入:输出： | 2:4 |
| 差分 - 输入:输出： | 是/是 |
| 输入： | HCSL，LVCMOS，LVDS，LVHSTL，LVPECL，LVTTL，SSTL |
| 输出： | HCSL |
| 频率 - 最大： | 500MHz |
| 电源电压： | 2.97 V ~ 3.63 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 20-TSSOP（0.173"，4.40mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 20-TSSOP |
| 包装： | 带卷 (TR) |
| 其它名称： | 85104AGILFT |
ICS85104AGI REVISION A MAY 27, 2011
7
2011 Integrated Device Technology, Inc.
ICS85104I Data Sheet
LOW SKEW, 1-TO-4, DIFFERENTIAL/LVCMOS-TO-0.7V HCSL FANOUT BUFFER
PARAMETER MEASUREMENT INFORMATION
DIFFERENTIAL INPUT LEVELS
HCSL OUTPUT LOAD AC TEST CIRCUIT
475
Ω
IREF
33
Ω
50
Ω
50
Ω
33
Ω
49.9
Ω
49.9
Ω
HCSL
GND
2pF
Qx
nQx
0V
3.3V±10%
VDD
HCSL OUTPUT LOAD AC TEST CIRCUIT
PART-TO-PART SKEW
tsk(o)
nQx
Qx
nQy
Qy
tsk(pp)
nQx
Qx
nQy
Qy
PART 1
PART 2
V
CMR
Cross Points
V
PP
GND
nCLK0
V
DD
CLK0
t
PD
OUTPUT SKEW (DIFFERENTIAL INPUT)
CLK0
nCLK0
Q0:Q3
nQ0:nQ3
t
PD
CLK1
Q0:Q3
nQ0:nQ3
PROPAGATION DELAY (DIFFERENTIAL INPUTS)
PROPAGATION DELAY (LVCMOS INPUT)
475
Ω
IREF
50
Ω
50
Ω
HCSL
GND
0V
SCOPE
3.3V±10%
VDD
DIFFERENTIAL MEASUREMENT POINTS FOR RISE/FALL TIME
Q - nQ
-150mV
+150mV
0.0V
Fall Edge Rate
Rise Edge Rate
This load condition is used for I
DD
,
tsk(o), t
PD
, and
tjit measurements.
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| ICS85105AGILF | IC CLOCK BUFFER MUX 2:5 20-TSSOP |
| ICS85108AGILFT | IC CLK BUFFER 1:8 500MHZ 24TSSOP |
| ICS8516FYILFT | IC CLK BUFF 1:16 700MHZ 48-LQFP |
| ICS8516FYLFT | IC CLK BUFF 1:16 700MHZ 48-LQFP |
| ICS8520DYLF | IC CLK BUFF 1:16 500MHZ 48-LQFP |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| ICS85105AGI | 制造商:Integrated Device Technology Inc 功能描述:IC CLK BUFFER 2:5 500MHZ 20TSSOP |
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| ICS85105AGIT | 制造商:Integrated Device Technology Inc 功能描述:IC CLK BUFFER 2:5 500MHZ 20TSSOP |
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