参数资料
型号: ICS9E4101AFILFT
厂商: IDT, Integrated Device Technology Inc
文件页数: 9/19页
文件大小: 0K
描述: IC TIMING CTRL HUB PROG 56SSOP
标准包装: 1,000
系列: TCH™, PCI Express® (PCIe)
类型: 时钟/频率合成器
PLL:
主要目的: PCI Express(PCIe),Timing Control Hub?
输入: 晶体
输出: HCSL
电路数: 1
比率 - 输入:输出: 1:21
差分 - 输入:输出: 无/是
频率 - 最大: 400MHz
电源电压: 3.135 V ~ 3.465 V
工作温度: -40°C ~ 85°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 56-BSSOP(0.295",7.50mm 宽)
供应商设备封装: 56-SSOP
包装: 带卷 (TR)
IDTTM
Programmable Timing Control HubTM for Intel Systems
1408A—01/25/10
ICS9E4101
Programmable Timing Control HubTM for Intel Systems
17
Test Clarification Table
Comments
FS_C/TEST
_SEL
HW PIN
FS_B/TEST
_MODE
HW PIN
TEST
ENTRY
BIT
B6b6
REF/N or
HI-Z
B6b7
OUTPUT
0X
0
X
NORMAL
10
X
0
HI-Z
10
X
1
REF/N
11
X
0
REF/N
11
X
1
REF/N
0X
1
0
HI-Z
0X
1
REF/N
B6b6: 1= ENTER TEST MODE, Default = 0 (NORMAL OPERATION)
B6b7: 1= REF/N, Default = 0 (HI-Z)
HW
SW
FS_C/TEST_SEL is a 3-level latched input.
o Power-up w/ V >= 2.0V to select TEST
o Power-up w/ V < 2.0V to have pin function as
FS_C.
When pin is FS_C, VIH_FS and VIL_FS levels
apply.
FS_B/TEST_MODE is a low-threshold input
o VIH_FS and VIL_FS levels apply.
o TEST_MODE is a real time input
TEST_SEL can be invoked after power up through
SMBus B6b6.
o If TEST is selected by B6b6, only B6b7 controls
TEST_MODE. The FS_B/TEST_Mode pin is not
used.
Power must be cycled to exit TEST.
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