参数资料
型号: IDT7026S55JI8
厂商: IDT, Integrated Device Technology Inc
文件页数: 5/18页
文件大小: 0K
描述: IC SRAM 256KBIT 55NS 84PLCC
标准包装: 200
格式 - 存储器: RAM
存储器类型: SRAM - 双端口,异步
存储容量: 256K(16K x 16)
速度: 55ns
接口: 并联
电源电压: 4.5 V ~ 5.5 V
工作温度: -40°C ~ 85°C
封装/外壳: 84-LCC(J 形引线)
供应商设备封装: 84-PLCC(29.21x29.21)
包装: 带卷 (TR)
其它名称: 7026S55JI8
IDT7026S/L
High-Speed 16K x 16 Dual-Port Static RAM
Recommended DC Operating
Conditions
Military, Industrial and Commercial Temperature Ranges
Symbol
V CC
GND
V IH
V IL
Parameter
Supply Voltage
Ground
Input High Voltage
Input Low Voltage
Min.
4.5
0
2.2
-0.5 (1)
Typ.
5.0
0
____
____
Max.
5.5
0
6.0 (2)
0.8
Unit
V
V
V
V
2939 tbl 07
NOTES:
1. V IL > -1.5V for pulse width less than 10ns.
2. V TERM must not exceed Vcc + 10%.
DC Electrical Characteristics Over the Operating
Temperature and Supply Soltage Range (V CC = 5.0V ± 10%)
7026S
7026L
Input Leakage Current
Symbol
|I LI |
|I LO |
V OL
V OH
Parameter
(1)
Output Leakage Current
Output Low Voltage
Output High Voltage
Test Conditions
V CC = 5.5V, V IN = 0V to V CC
CE = V IH , V OUT = 0V to V CC
I OL = 4mA
I OH = -4mA
Min.
___
___
___
2.4
Max.
10
10
0.4
___
Min.
___
___
___
2.4
Max.
5
5
0.4
___
Unit
μA
μA
V
V
NOTE:
1. At Vcc = 2.0V, input leakages are undefined.
AC Test Conditions
Input Pulse Levels
Input Rise/Fall Times
Input Timing Reference Levels
Output Reference Levels
Output Load
GND to 3.0V
3ns
1.5V
1.5V
Figures 1 and 2
2939 tbl 09
2939 tbl 08
DATA OUT
BUSY
5V
893 ?
DATA OUT
5V
893 ?
347 ?
30pF
347 ?
5pF*
,
2939 drw 04
Figure 1. AC Output Test Load
5
6.42
2939 drw 05
Figure 2. Output Test Load
(for t LZ , t HZ , t WZ , t OW )
* Including scope and jig.
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PDF描述
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