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参数资料
| 型号： | IDT7027S55PF8 |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 7/19页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SRAM 512KBIT 55NS 100TQFP |
| 标准包装： | 750 |
| 格式 - 存储器： | RAM |
| 存储器类型： | SRAM - 双端口，异步 |
| 存储容量： | 512K (32K x 16) |
| 速度： | 55ns |
| 接口： | 并联 |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 封装/外壳： | 100-LQFP |
| 供应商设备封装： | 100-TQFP（14x14） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
| 其它名称： | 7027S55PF8 |
IDT7027S/L
High-Speed 32K x 16 Dual-Port Static RAM
AC Test Conditions
dInput Pulse Levels
Input Rise/Fall Times
Input Timing Reference Levels
Output Reference Levels
Output Load
GND to 3.0V
5ns Max.
1.5V
1.5V
Figures 1 and 2
3199 tbl 11
Industrial and Commercial Temperature Ranges
DATA OUT
BUSY
5V
893 ?
DATA OUT
5V
893 ?
INT
347 ?
30pF
347 ?
5pF*
.
3199 drw 04
Figure 1. AC Output Test Load
Figure 2. Output Test Load
(for t LZ , t HZ , t WZ , t OW )
*Including scope and jig.
AC Electrical Characteristics Over the
Operating Temperature and Supply Voltage Ranges (4)
7027X15
Com'l Only
7027X20
Com'l
7027X25
Com'l
7027X35
Com'l Only
7027X55
Com'l Only
& Ind
& Ind
Symbol
Parameter
Min.
Max.
Min.
Max.
Min.
Max.
Min.
Max.
Min.
Max.
Unit
READ CYCLE
t RC
t AA
t ACE
t AOE
t OH
Read Cycle Time
Address Access Time
Chip Enable Access Time (4)
Output Enable Access Time
Output Hold from Address Change
15
____
____
____
3
____
15
15
10
____
20
____
____
____
3
____
20
20
12
____
25
____
____
____
3
____
25
25
13
____
35
____
____
____
3
____
35
35
20
____
55
____
____
____
3
____
55
55
30
____
ns
ns
ns
ns
ns
t LZ
Output Low-Z Time
(1,2)
3
____
3
____
3
____
3
____
3
____
ns
t HZ
Output High-Z Time
(1,2)
____
10
____
12
____
15
____
15
____
25
ns
t PU
t PD
t SOP
t SAA
Chip Enable to Power Up Time (2)
Chip Disable to Power Down Time (2)
Semaphore Flag Update Pulse ( OE or SEM )
Semaphore Address Access Time
0
____
10
____
____
15
____
15
0
____
10
____
____
20
____
20
0
____
12
____
____
25
____
25
0
____
15
____
____
35
____
35
0
____
15
____
____
50
____
55
ns
ns
ns
ns
3199 tbl 12
NOTES: .
1. Transition is measured 0mV from Low or High-impedance voltage with Output Test Load (Figure 2).
2. This parameter is guaranteed by device characterization, but is not production tested.
3. To access RAM, CE = V IL and SEM = V IH . To access semaphore, CE = V IH and SEM = V IL .
4. 'X' in part numbers indicates power rating (S or L).
5. Refer to Chip Enable Truth Table.
7
6.42
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PDF描述 |
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