参数资料
型号: IDT7027S55PF8
厂商: IDT, Integrated Device Technology Inc
文件页数: 8/19页
文件大小: 0K
描述: IC SRAM 512KBIT 55NS 100TQFP
标准包装: 750
格式 - 存储器: RAM
存储器类型: SRAM - 双端口,异步
存储容量: 512K (32K x 16)
速度: 55ns
接口: 并联
电源电压: 4.5 V ~ 5.5 V
工作温度: 0°C ~ 70°C
封装/外壳: 100-LQFP
供应商设备封装: 100-TQFP(14x14)
包装: 带卷 (TR)
其它名称: 7027S55PF8
IDT7027S/L
High-Speed 32K x 16 Dual-Port Static RAM
Waveform of Read Cycles (5)
ADDR
t RC
Industrial and Commercial Temperature Ranges
CE
(6)
(4)
t AA
(4)
t ACE
t AOE
(4)
OE
t ABE (4)
UB , LB
R/ W
DATA OUT
t LZ
(1)
VALID DATA
(4)
t OH
BUSY OUT
t HZ
(2)
Timing of Power-Up Power-Down
CE (6)
t BDD
(3,4)
3199 drw 05
I CC
t PU
50%
t PD
50%
I SB
3199 drw 06
.
NOTES:
1. Timing depends on which signal is asserted last, CE , OE , LB , or UB .
2. Timing depends on which signal is de-asserted first CE , OE , LB , or UB .
3. t BDD delay is required only in cases where the opposite port is completing a write operation to the same address location. For simultaneous read operations BUSY
has no relation to valid output data.
4. Start of valid data depends on which timing becomes effective last t AOE , t ACE , t AA or t BDD .
5. SEM = V IH .
6. Refer to Chip Enable Truth Table.
8
6.42
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