参数资料
型号: IDT709169L7BFI
厂商: IDT, Integrated Device Technology Inc
文件页数: 12/16页
文件大小: 0K
描述: IC SRAM 144KBIT 7NS 100FBGA
标准包装: 60
格式 - 存储器: RAM
存储器类型: SRAM - 双端口,同步
存储容量: 144K(16K x 9)
速度: 7ns
接口: 并联
电源电压: 4.5 V ~ 5.5 V
工作温度: -40°C ~ 85°C
封装/外壳: 100-LFBGA
供应商设备封装: 100-CABGA(10x10)
包装: 托盘
其它名称: 709169L7BFI
IDT709169/59L
High-Speed 16/8K x 9 Synchronous Pipelined Dual-Port Static RAM
Industrial and Commercial Temperature Ranges
Timing Waveform of Flow-Through Read-to-Write-to-Read ( OE = V IL ) (3)
t CYC1
CLK
CE 0
t CH1
t CL1
t SC
t HC
CE 1
t SW t HW
R/ W
t SW t HW
(4)
ADDRESS
An
An +1
An + 2
An + 2
An + 3
An + 4
t SA
t HA
t SD t HD
DATA IN
Dn + 2
DATA OUT
(2)
t CD1
Qn
t CD1
Qn + 1
t CD1
Qn + 3
t CD1
t DC
t CKHZ
(1)
(1)
t CKLZ
t DC
READ
NOP
(5)
WRITE
READ
5653 drw 13
Timing Waveform of Flow-Through Read-to-Write-to-Read ( OE Controlled) (3)
t CYC1
t CH1
t CL1
CLK
CE 0
t SC t HC
CE 1
t SW t HW
R/ W
t SW t H W
(4)
ADDRESS
An
An +1
An + 2
An + 3
An + 4
An + 5
t SA
t HA
t SD t HD
DATA IN
(2)
t CD1
t DC
Dn + 2
Dn + 3
t OE
t CD1
t CD1
DATA OUT
Qn
(1)
Qn + 4
t OHZ
(1)
t CKLZ
t DC
OE
READ
WRITE
READ
5653 drw 14
NOTES:
1. Transition is measured 0mV from Low or High-impedance voltage with the Output Test Load (Figure 2).
2. Output state (High, Low, or High-impedance is determined by the previous cycle control signals.
3. CE 0 and ADS = V IL ; CE 1 , CNTEN , and CNTRST = V IH . "NOP" is "No Operation".
4. Addresses do not have to be accessed sequentially since ADS = V IL constantly loads the address on the rising edge of the CLK; numbers are for reference use only.
5. "NOP" is "No Operation." Data in memory at the selected address may be corrupted and should be re-written to guarantee data integrity.
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6.42
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