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参数资料
| 型号： | IDT709379L7PFG |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 6/16页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SRAM 576KBIT 7NS 100TQFP |
| 标准包装： | 6 |
| 格式 - 存储器： | RAM |
| 存储器类型： | SRAM - 双端口，同步 |
| 存储容量： | 576K（32K x 18） |
| 速度： | 7ns |
| 接口： | 并联 |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 封装/外壳： | 100-LQFP |
| 供应商设备封装： | 100-TQFP（14x14） |
| 包装： | 托盘 |
IDT709379/69L
High-Speed 32/16K x 18 Synchronous Pipelined Dual-Port Static RAM
AC Test Conditions
Industrial and Commercial Temperature Ranges
Input Pulse Levels
Input Rise/Fall Times
Input Timing Reference Levels
Output Reference Levels
Output Load
GND to 3.0V
3ns Max.
1.5V
1.5V
Figures 1,2 and 3
4845 tbl 10
DATA OUT
5V
893 ?
DATA OUT
5V
893 ?
347 ?
30pF
347 ?
5pF*
Figure 1. AC Output Test load.
4845 drw 04
4845 drw 05
Figure 2. Output Test Load
(For t CKLZ , t CKHZ , t OLZ , and t OHZ ).
*Including scope and jig.
8
7
6
- 10pF is the I/O capacitance
of this device, and 30pF is the
AC Test Load Capacitance
tCD 1 ,
tCD 2
(Typical, ns)
5
4
3
2
1
0
20 40 60 80 100 120 140 160 180 200
-1
Capacitance (pF)
4845 drw 06
Figure 3. Typical Output Derating (Lumped Capacitive Load).
6.42
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PDF描述 |
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参数描述 |
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