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参数资料
| 型号： | IDT7130LA55TF8 |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 9/21页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SRAM 8KBIT 55NS 64STQFP |
| 标准包装： | 1,250 |
| 格式 - 存储器： | RAM |
| 存储器类型： | SRAM - 双端口，异步 |
| 存储容量： | 8K (1K x 8) |
| 速度： | 55ns |
| 接口： | 并联 |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 封装/外壳： | 64-LQFP |
| 供应商设备封装： | 64-TQFP（10x10） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
| 其它名称： | 7130LA55TF8 |
IDT7130SA/LA and IDT7140SA/LA
High-Speed 1K x 8 Dual-Port Static SRAM
AC Test Conditions
Military, Industrial and Commercial Temperature Ranges
Input Pulse Levels
Input Rise/Fall Times
Input Timing Reference Levels
Output Reference Levels
Output Load
GND to 3.0V
5ns
1.5V
1.5V
Figures 1,2 and 3
2689 tbl 08
DATA OUT
5V
1250 ?
DATA OUT
5V
1250 ?
775 ?
30pF*
775 ?
5pF*
*100pF for 55 and 100ns versions
Figure 1. Output Test Load
Figure 2. Output Test Load
(for t HZ , t LZ , t WZ , and t OW )
* including scope and jig
5V
270 ?
BUSY or INT
30pF*
*100pF for 55 and 100ns versions
2689 drw 07
Figure 3. BUSY and INT
AC Output Test Load
9
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PDF描述 |
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