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参数资料
| 型号： | ISL54209IRUZ-T7A |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 19/19页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC USB SWITCH DUAL SPDT 10UTQFN |
| 标准包装： | 1 |
| 功能： | USB 开关 |
| 电路： | 2 x SPDT - NO |
| 导通状态电阻： | 20 欧姆 |
| 电压电源： | 单电源 |
| 电压 - 电源，单路/双路(±)： | 2.5 V ~ 5 V |
| 电流 - 电源： | 7µA |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 10-UFQFN |
| 供应商设备封装： | 10-UTQFN（2.1x1.6） |
| 包装： | 标准包装 |
| 其它名称： | ISL54209IRUZ-T7ADKR |
9
FN6627.4
June 10, 2010
FIGURE 5. CAPACITANCE TEST CIRCUIT
FIGURE 6. AUDIO CROSSTALK TEST CIRCUIT
FIGURE 7A. MEASUREMENT POINTS
FIGURE 7B. TEST CIRCUIT
FIGURE 7. SKEW TEST
Test Circuits and Waveforms (Continued)
VDD
C
GND
AUDIO OR USB
COMx
IN
IMPEDANCE
ANALYZER
0V OR VDD
Repeat test for all switches.
CTRL
0V
ANALYZER
VDD
C
L OR R
SIGNAL
GENERATOR
RL
GND
IN
COMx
32Ω
NC
COMx
R OR L
Signal direction through switch is reversed, worst case values
are recorded. Repeat test for all switches.
CTRL
DIN+
DIN-
OUT+
OUT-
50%
90%
10%
90%
50%
90%
50%
tri
tfi
tro
tf0
tskew_i
tskew_o
OUT+
CL
COM-
D+
GND
VDD
C
D-
COM+
CL
OUT-
DIN+
DIN-
|tro - tri| Delay Due to Switch for Rising Input and Rising Output Signals.
|tfo - tfi| Delay Due to Switch for Falling Input and Falling Output Signals.
|tskew_0| Change in Skew through the Switch for Output Signals.
|tskew_i| Change in Skew through the Switch for Input Signals.
15.8
Ω
15.8
Ω
143
Ω
143
Ω
45
Ω
45
Ω
CTRL
IN
VDD
ISL54209
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