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参数资料
| 型号： | ISL54225IRTZEVAL1Z |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 16/18页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | BOARD EVAL FOR ISL5425A MUX |
| 标准包装： | 1 |
| 主要目的： | 接口，USB 2.0 开关 |
| 嵌入式： | 否 |
| 已用 IC / 零件： | ISL54225 |
| 主要属性： | 2 通道 |
| 次要属性： | 2.7 V ~ 5.25 V 电源 |
| 已供物品： | 板 |
7
FN7627.0
July 2, 2010
Test Circuits and Waveforms
Logic input waveform is inverted for switches that have the
opposite logic sense.
FIGURE 1A. MEASUREMENT POINTS
Repeat test for all switches. CL includes fixture and stray
capacitance.
FIGURE 1B. TEST CIRCUIT
FIGURE 1. SWITCHING TIMES
FIGURE 2A. MEASUREMENT POINTS
Repeat test for all switches. CL includes fixture and stray
capacitance.
FIGURE 2B. TEST CIRCUIT
FIGURE 2. BREAK-BEFORE-MAKE TIME
FIGURE 3. rON TEST CIRCUIT
50%
tr < 20ns
tf < 20ns
tOFF
90%
VDD
0V
VINPUT
0V
tON
LOGIC
INPUT
SWITCH
INPUT
SWITCH
OUTPUT
90%
VOUT
VOUT
V(INPUT)
RL
RL rON
+
------------------------
=
SWITCH
INPUT
VIN
VOUT
RL
CL
Dx
HSDxx
SEL
GND
VDD
C
OE
VINPUT
90%
VDD
0V
tD
LOGIC
INPUT
SWITCH
OUTPUT
0V
VOUT
VIN
SEL
Dx
RL
CL
VOUT
10pF
50
Ω
HSD2x
VDD
GND
VINPUT
C
OE
HSD1x
VDD
C
0V OR VDD
HSDx
Dx
SEL
GND
VHSDx
V1
rON = V1/17mA
17mA
Repeat test for all switches.
OE
ISL54225
相关PDF资料 |
PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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