参数资料
| 型号： | ISL81487LIBZ-T |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 2/14页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC TXRX RS485/422 5V HS 8-SOIC |
| 标准包装： | 2,500 |
| 类型： | 收发器 |
| 驱动器/接收器数： | 1/1 |
| 规程： | RS422，RS485 |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 8-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 8-SOICN |
| 包装： | 带卷 (TR) |
10
FN6051.7
February 27, 2006
Human Body Model Testing
As the name implies, this test method emulates the ESD
event delivered to an IC during human handling. The tester
delivers the charge stored on a 100pF capacitor through a
1.5k
current limiting resistor into the pin under test. The
HBM method determines an IC’s ability to withstand the ESD
events typically present during handling and manufacturing.
The RS-485 pin survivability on this high ESD family has
been characterized to be in excess of
±15kV, for discharges
to GND.
Typical Performance Curves VCC = 5V, TA = 25°C, ISL8487E, ISL81487L and ISL81487E;
Unless Otherwise Specified
FIGURE 6. DRIVER OUTPUT CURRENT vs DIFFERENTIAL
OUTPUT VOLTAGE
FIGURE 7. DRIVER DIFFERENTIAL OUTPUT VOLTAGE vs
TEMPERATURE
FIGURE 8. DRIVER OUTPUT CURRENT vs SHORT CIRCUIT
VOLTAGE
FIGURE 9. SUPPLY CURRENT vs TEMPERATURE
DIFFERENTIAL OUTPUT VOLTAGE (V)
DRIVER
OUTPUT
CURRENT
(m
A)
012
345
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
-40
0
50
85
2
2.2
2.4
2.6
2.8
3
3.2
3.4
3.6
TEMPERATURE (°C)
DIFFERENTIAL
OUTPUT
VOL
TAGE
(V)
-25
25
75
RDIFF = 54
RDIFF = 100
OUTPUT VOLTAGE (V)
-7 -6
-4
-2
0
2
4
6
8
10
12
OUTPUT
CUR
RE
NT
(mA)
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
160
-80
-100
-120
Y OR Z = HIGH
Y OR Z = LOW
ISL81487E
ISL8487E, ISL81487L
100
150
200
250
300
350
-40
0
50
85
TEMPERATURE (°C)
I CC
(A)
-25
25
75
ISL81487E, DE = VCC, RE = X
ISL8487E, ISL81487L, DE = VCC, RE = X
ISL81487E, DE = GND, RE = X
ISL8487E, ISL81487L, DE = GND, RE = GND
400
ISL8487E, ISL81487L, ISL81487E
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PDF描述 |
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参数描述 |
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